Especificaciones técnicas:

·         Voltaje de aceleración de 200 kV.

·         Cañón de electrones termiónico de LaB6.

·         Resolución entre puntos de 0.25 nm.

·         Unidad de STEM incorporada con detector de campo claro.

·         Cámara CCD ORIUS SC1000 (Model 832).

·         Goniómetros disponibles: inclinación única ±42, doble inclinación ±42/±30 y de alto giro de hasta ±80 para tomografía.

·         Sistema de microanálisis por XEDS (OXFORD INCA)


Este equipo ofrece una combinación perfecta de características que le convierten en fundamental para el estudio de casi cualquier tipo de material: (i) alto giro para el estudio detallado de la red recíproca (ii) alta resolución en modo imagen (iii) análisis de composición por XEDS (X-Ray Energy Dispersive Spectroscopy) (iv) mapeado químico en modo STEM (Scanning-Transmission Electron Microscopy). La herramienta más versátil de la que se dispone dentro de la microscopía electrónica de transmisión en ciencia de materiales y, por tanto, paso previo imprescindible al uso de otros equipos de más alta resolución (JEOL JEM-3000F).