Especificaciones técnicas:

  • AFM multimode Nanoscope III A (Bruker) equipado con tres scanners de 1 µ, 15 µ y 150 µ.
  • Controlador de temperatura (medidas entre temperatura ambiente y 60ºC).

 

El AFM es una técnica de medida superficial que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Esta técnica permite el análisis superficial de muestras con resolución nanométrica o incluso atómica. Como principal ventaja tiene la posibilidad de hacer medidas sin ningún tratamiento previo de la muestra a medir, y sin la necesidad de emplear vacío.

 

Modos de trabajo:

  1. Topografía en modo contacto, en aire y en líquido (medidas de rugosidad superficial, altura de capas, escalones, terrazas o la forma o distribución de objetos en la superficie)
  2. Topografía en modo tapping, en aire y en líquido, con la correspondiente imagen de fase (medidas del contraste composicional de diferentes materiales).
  3. Medidas mecánicas, tanto en contacto como en tapping, y en aire o en líquidos (obtención de curvas deflexión-desplazamiento).
  4. Medidas de potencial de superficie que permite detectar la presencia de cargas en la superficie de la muestra.
  5. Medidas de fuerzas magnéticas (MFM) que permiten observar dominios magnéticos que no son visibles en el modo topográfico.
  6. Medidas de fuerzas eléctricas (EFM) sobre la superficie de la muestra.
  7. Medidas de nanoindentación y nanoscratching para obtener información sobre la dureza de una muestra o la adhesión y durabilidad de una película.

 

Especificaciones técnicas:

 

  • Elementos detectables Be a U
  • Rango de los espectrómetros de 0.087 a 9.3 nm
  • Velocidad máxima del stage 2 mm/s
  • Voltaje de aceleración 0.2 a 40 kv
  • Estabilidad de corriente + 2 x 10-3 hora
  • Resolución en secundarios de 6 nm (WD 11 mm a 35 kv)
  • Detector de retrodispersados (topografía y composición)
  • Tamaño máximo de muestra 100x100 mm
  • Área de análisis 80x90 mm

 

 

 

Microsonda WDS (EPMA, Electron Probe Micro Analyzer)

 

Técnica que permite análisis puntuales en superficies perfectamente pulidas hasta de una micra de diámetro. Se dispone de 5 espectrómetros de dispersión de longitud de onda (5 canales) en donde están alojados los siguientes cristales:

 

  • Canal 1: TAP y LDE2 y LDE1
  • Canal 2: PETJ y LIF
  • Canal 3: PETJ y LIF
  • Canal 4: PETJH y LIFH
  • Canal 5: TAPH y LDE3H

 

Permite cubrir un rango de elementos desde el berilio  hasta el uranio, excluyendo gases nobles y tecnecio. La capacidad del software permite análisis de 27 elementos en un periodo de tiempo relativamente corto dependiendo de las condiciones de medida a utilizar en cada caso. Dispone de detectores de imágenes en modo de electrones secundarios, retrodispersados y topografía. El centro dispone de una amplia colección de patrones aceptados internacionalmente.

 

 

 

Prestaciones:

 

  • Análisis cualitativo con estimación semi-cuantitativa
  • Analisis cuantitativo con patrones desde Be a U
  • Perfiles composicionales (gráfico y con interpretación semi-cuantitativa) con un pixelado desde 0.1 micras
  • Zonados composicionales (gráfico y con interpretación semi-cuantitativa) con un pixelado desde 0.1 micras

 

 

 

Campos de aplicación:

 

  • Cualquier tipo de material susceptible de poder  obtener una superficie especular para ser analizada.             

 

 

       

Especificaciones técnicas:

  • Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo
  • Detector de electrones secundarios:
    Resolución de la imagen
    • A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
    • A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
    • Amplificación (MAG): de 10 X (a los 39 mm de WD) a 500.000 X.
  • Detector de electrones retrodispersados:
    • A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
  • Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm2 con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.

 

Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

 

Especificaciones técnicas:

  • Cañón de electrones de cátodo termoiónico con filamento de tungsteno.
  • Detector de electrones secundarios:

Resolución de la imagen

    • A 25 KV:
      • 3.5 nm   (a 8 mm de distancia de trabajo).
      • 10.0 nm (a 39 mm de distancia de trabajo).
  • Detector de electrones retrodispersados:

Resolución de la imagen

      • 10.0 nm (a  8 mm de distancia de trabajo).
  • Análisis EDS: análisis elemental cualitativo con una resolución de 133 eV.
  • Preparación de muestras para microscopía de barrido:
    • Materiales: metalización con oro o evaporación con grafito
    • Biológicas:
      • punto crítico
      • evaporación con grafito y/o metalización con oro 

Este microscopio está especialmente indicado para la observación de la superficie de materiales (geológicos, químico-físico…) y biológicos, con la posibilidad de realizar análisis semicuantitativos para obtener una aproximación de la composición de los materiales. Se pede obtener, mediante el empleo de electrones retrodispersados, la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

 

 

 

Especificaciones técnicas:

  • Voltaje de aceleración 100 KV
  • Cañón de electrones termoiónico de B6La
  • Resolución entre puntos 0.35 nm
  • Captación de imágenes con una cámara megaview II

Este microscopio permite el estudio de la ultraestructura celular en secciones ultrafinas (50-70 nm) obtenidas con un ultramicrotomo. Asimismo, usando técnicas de tinción negativa es posible el estudio de virus, bacterias, proteínas y sistemas de interacción nanopartícula-biomolécula. Las criotécnicas permiten mayor preservación de la antigenicidad para el marcaje de proteínas con anticuerpos conjugados con oro coloidal. Para ello se cuenta con un equipo de criosubstitución Leica AFS para la inclusión de muestras en resinas a baja temperatura y un crioultramicrotomo Leica ultracut S para la obtención de secciones ultrafinas en congelación.

 

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