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22
Jun 2023
- Categoría: Noticias
- Escrito por Mariona Cabero Piris
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ELECMI, ICTS de Microscopía Electrónica, lanza su segundo proceso de acceso abierto competitivo y gratuito
La ICTS ELECMI lanza su segundo proceso de acceso abierto competitivo para la solicitud gratuita de sus equipos. La convocatoria está abierta al sector I+D+i y el mundo empresarial.
De todas las solicitudes enviadas, las mejor valoradas pasarán a disponer de un tiempo de medición sin coste alguno. Los centros de investigación y las PYMES tendrán acceso a instalaciones de última generación en análisis y caracterización de materiales a nivel europeo.
Las propuestas recibidas, evaluadas en primer lugar por el personal de la instalación para comprobar su viabilidad técnico-científica, serán sucesivamente examinadas por un Comité de Acceso compuestos por expertos independientes y miembros de ELECMI.
El amplio conjunto de equipamientos y técnicas en Microscopía Electrónica y Sonda Local está dedicado a la observación, análisis y caracterización de materiales a escala atómica y molecular, entre otras técnicas. Seguirá disponible también el acceso bajo demanda de todos los equipos, ofreciendo así un soporte 360º a las exigencias industriales y científicas de los usuarios de ELECMI.
Los centros que integran actualmente ELECMI son: el CNME (Centro Nacional de Microscopía Electrónica) de la Universidad Complutense de Madrid; el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) de la Universidad de Zaragoza; la DME (División de Microscopía Electrónica) de la Universidad de Cádiz y la UMEAP (Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales) de la Universidad de Barcelona.
FECHAS DE SOLICITUD: del 3 al 14 de julio de 2023.
FORMULARIO ÚNICO: https://form.elecmi.es/entryfrm.php
PROTOCOLO E INSTRUCCIONES DE ACCESO: https://elecmi.es/protocolo-acceso-abierto-competitivo/
Financiados con fondos FEDER
Certificado ISO 9001-2015
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica ha sido acreditado con el certificado de calidad ISO 9001-2015