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Estimados usuarios de la ICTS de Microscopia Electrónica de la UCM,


Se comunica que, con motivo de la jubilación del Prof. José María González Calbet, la nueva directora de esta ICTS de Microscopia Electrónica es la Prof. María Varela del Arco, Catedrática de Física de la Materia Condesada (Departamento de Física de Materiales, Facultad de Ciencias Físicas, UCM), reconocida especialista en el uso de técnicas avanzadas de microscopía electrónica aplicadas a la investigación de materiales, con amplia experiencia en la caracterización de sistemas de baja dimensionalidad. La profesora Varela, usuaria de esta instalación desde que hacía su tesis, contribuirá con su conocimiento y experiencia al buen funcionamiento de esta ICTS para el desarrollo de vuestros proyectos científicos.

 

La ICTS ELECMI lanza su segundo proceso de acceso abierto competitivo para la solicitud gratuita de sus equipos. La convocatoria está abierta al sector I+D+i y el mundo empresarial.

De todas las solicitudes enviadas, las mejor valoradas pasarán a disponer de un tiempo de medición sin coste alguno. Los centros de investigación y las PYMES tendrán acceso a instalaciones de última generación en análisis y caracterización de materiales a nivel europeo.

Las propuestas recibidas, evaluadas en primer lugar por el personal de la instalación para comprobar su viabilidad técnico-científica, serán sucesivamente examinadas por un Comité de Acceso compuestos por expertos independientes y miembros de ELECMI.

El amplio conjunto de equipamientos y técnicas en Microscopía Electrónica y Sonda Local está dedicado a la observación, análisis y caracterización de materiales a escala atómica y molecular, entre otras técnicas. Seguirá disponible también el acceso bajo demanda de todos los equipos, ofreciendo así un soporte 360º a las exigencias industriales y científicas de los usuarios de ELECMI.

Los centros que integran actualmente ELECMI son: el CNME (Centro Nacional de Microscopía Electrónica) de la Universidad Complutense de Madrid; el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) de la Universidad de Zaragoza; la DME (División de Microscopía Electrónica) de la Universidad de Cádiz y la UMEAP (Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales) de la Universidad de Barcelona.

FECHAS DE SOLICITUD: del 3 al 14 de julio de 2023.

FORMULARIO ÚNICO: https://form.elecmi.es/entryfrm.php

PROTOCOLO E INSTRUCCIONES DE ACCESO: https://elecmi.es/protocolo-acceso-abierto-competitivo/

ELECMI publica la resolución de la primera convocatoria de acceso competitivo ELECMI de marzo 2023.

Los resultados se pueden consultar en la página web: https://elecmi.es/accesos-concedidos/

Pronto más información sobre la próxima convocatoria.

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Se ruega a los usuarios que comprueben dicha carpeta, para conocer el estado de la cita solicitada.

Contacto

Centro Nacional de Microscopía Electrónica
Facultad de Químicas
Av. Complutense s/n
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