Microscopios Electrónicos de Barrido
El microscopio electrónico de barrido (SEM) utiliza un haz de electrones para obtener imágenes de alta resolución de la superficie de un material. Permite estudiar la morfología, el tamaño y la composición elemental de muestras sólidas con aumentos muy superiores a los de un microscopio óptico convencional.
En el CNME disponemos de cuatro microscopios SEM que operan a bajos voltajes y están destinados a la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales. Con ellos es posible determinar de forma semicuantitativa la composición química, obtener la distribución de elementos y de fases, y estudiar la microestructura superficial de muy distintos tipos de materiales.
Son especialmente útiles para analizar superficies, recubrimientos, fractuografías y partículas de tamaño micrométrico. Las muestras conductoras pueden introducirse directamente; las no conductoras requieren un recubrimiento previo de carbono u oro.
Equipos disponibles:
- JEOL JSM 6400
- JEOL JSM 6335F
- JEOL JSM 7600F
- JEOL JSM IT700HR — apto para muestras biológicas y de ciencia de materiales; trabaja en alto y bajo vacío, con análisis EDS, catodoluminiscencia y portamuestras de enfriamiento
¿No sabe qué microscopio es el adecuado para su análisis? Consulte con nuestro equipo técnico: javier.garcíEsta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo./91-3944808
