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03
Jun 2024
- Categoría: Noticias
- Escrito por Maider Virumbrales Del Olmo
- Visto: 235
El próximo 5 junio quedará abierta a los usuarios la reserva online de este nuevo equipo, una vez finalizado la instalación, ajuste y formación de la nueva microsonda JXA-IHP200F que ha adquirido el centro.
En un principio, la apertura de estas reservas será parcial pero, a lo largo de los próximas semanas, se ampliará a la totalidad de los días.
Así mismo, y dadas las especiales características de este equipo, se ha realizado un pequeño incremento en las tarifas de uso que puede consultar haciendo click aquí.
Para más información sobre las características técnicas de este equipo, haga click aquí.
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16
May 2024
- Categoría: Noticias
- Escrito por Mariona Cabero Piris
- Visto: 298
El pasado viernes 17 de mayo asistieron el Excmo. Sr. Rector Mgfco. Joaquín Goyache y el Ilmo. Sr. Consejero de Educación Emilio Viciana para inaugurar en acto oficial el nuevo equipo instalado en el CNME: la Microsonda JXA-iHP200F.
Pincha aquí para ver la noticia.
Pincha aquí para ver el video de la inauguración.
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25
Abr 2024
- Categoría: Noticias
- Escrito por Mariona Cabero Piris
- Visto: 359
El 6 de mayo 2024 comienza el plazo para solicitar sus equipos de microscopía electrónica
Las candidaturas exitosas dispondrán de acceso gratuito a la instalación
La convocatoria está abierta al sector I+D+i y el mundo empresarial. Se ofrece acceso a los equipos singulares: microscopios de transmisión electrónica de ultra alta resolución, UHR-TEM, microscopios de doble haz de iones y electrones, (cryo)-Dual-Beams, así como microscopias de sonda local, JT-STM. Instalaciones todas ellas de última generación en análisis y caracterización de materiales a nivel europeo, que podrán utilizarse de forma gratuita si su solicitud recibe una alta calificación científico técnica.
Notas relevantes:
- El NEOARM 30-200kV cFEG, nuevo equipo singular disponible para la call competitiva
- El Titan Imagen no estará disponible hasta nuevo aviso debido a trabajos de actualización del equipo.
Los centros que integran actualmente ELECMI son: el CNME (Centro Nacional de Microscopía Electrónica) de la Universidad Complutense de Madrid; el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) de la Universidad de Zaragoza; la DME (División de Microscopía Electrónica) de la Universidad de Cádiz y la UMEAP (Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales) de la Universidad de Barcelona
Recordamos también que en todo momento está abierto el acceso a equipos bajo demanda, tanto de los singulares como de todos los otros instrumentos disponibles, pagando las tarifas de acceso correspondientes.
DATOS CLAVE SEGUNDA CONVOCATORIA 2024
FECHAS DE SOLICITUD: del 6 al 17 de mayo de 2024, hasta las 13:00h, Madrid time Zone
RESOLUCIÓN: alrededor de la segunda semana de julio de 2024
FORMULARIO ÚNICO: https://form.elecmi.es/entryfrm.php
MIRA LOS EQUIPOS SINGULARES: https://elecmi.es/equipos-singulares/
PROTOCOLO E INSTRUCCIONES DE ACCESO: https://elecmi.es/protocolo-acceso-abierto-competitivo/
WEB ELECMI: https:/elecmi.es/
Twitter: https://twitter.com/Elecmi_ICTS
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15
Feb 2024
- Categoría: Noticias
- Escrito por Mariona Cabero Piris
- Visto: 500
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica, junto con otros diecisiete Centros de Asistencia a la Investigación (CAI) han recibido el pasado 9 de febrero los certificados de calidad ISO 9001:2015, que acreditan la calidad de sus procesos.
Enlace a la noticia de Tribuna Complutense aquí.
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28
Nov 2023
- Categoría: Noticias
- Escrito por Mariona Cabero Piris
- Visto: 886
A partir de enero de 2024 comenzarán a ser efectivas las reservas en el nuevo microscopio electrónico de barrido JSM IT700HR.
Este microscopio está especialmente indicado para la caracterización superficial de muestras tanto dentro del área de la ciencia de materiales como del área de las ciencias de la vida. El equipo ofrece la posibilidad de trabajar tanto en alto como en bajo vacío, especialmente indicado para muestras con un cierto grado de humedad o sensibles al haz de electrones. Por ello y gracias a los detectores de electrones secundarios, retrodispersados, espectroscopía dispersiva de rayos X y cátodoluminiscencia, se consigue obtener una información muy completa de las muestras objeto de estudio.
Para más información sobre las características técnicas de este equipo, haga click aquí.
Financiados con fondos FEDER
Certificado ISO 9001-2015
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica ha sido acreditado con el certificado de calidad ISO 9001-2015