Especificaciones Técnicas:
Tensión de aceleración: De 40 kV a 120 kV. En pasos de 33 V
- Modos de trabajo: TEM y STEM
- Resolución:
Modo TEM:
- 0,38 nm entre puntos.
- 0,2 nm entre líneas
Modo STEM: 2,0 nm
- Dispositivo de barrido en transmisión STEM Mode
- Sistema de adquisición de imagen STEM
Aumentos
- Modo TEM: 50x a 1.200.000x
- Modo STEM: 120x a 2.000.000x
Longitud de la cámara de 15 cm a 350 cm. en SA DIFF y de 4 m a 80 m en HD DIFF.
Lentes Condensadoras:
Tres lentes condensadoras con zoom para el spot de iluminación.
Se puede controlar el brillo en modo zoom.
Tres aperturas de 20, 100 y 300 µm de diámetro con posiciones prefijadas
Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable.
Alineación (inclinación y desplazamiento) electromagnética, memorizable.
Cambio de “bright/dark field” instantáneo con memorización para ambas condiciones, mediante un solo pulsador.
Lentes Objetivos:
Cuatro aperturas variables de 20, 40, 60 y 120 µm con posiciones prefijadas.
Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable.
Alineación (inclinación y desplazamiento) electromagnética, memorizable.
Dos lentes objetivos
Ayuda al enfoque mediante Wobbler.
Posibilidad de programar pasos de desenfoque para aumentar contraste.
Búsqueda automática de foco con programación de intervalos.
Sistema de lentes intermedias:
Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable
Libres de rotación de imagen y distorsión
Incorpora sistema de orientación electromagnética de imagen. Permite rotar la imagen en la pantalla del microscopio el ángulo deseado.
Consta de:
Tres lentes intermedias, tres diafragmas de 20, 100 y 300 µm de diámetro
Lente Proyectora: Una libre de distorsión.
Total tres lentes de iluminación y seis lentes de formación de imagen.
Sistema de vacío:
Control automático de la secuencia de vacío.
Presión en la cámara de muestras de 10-5 Pa
Desgasificación de la columna programable.
Reloj de puesta en marcha automática del microscopio mediante bombas difusoras en cascada, con trampas refrigeradas por agua.
Sistemas de seguridad:
Cuenta con dispositivos de aviso y protección contra fallos de alimentación eléctrica, agua, vacío, alta tensión y exceso de corriente de emisión
El microscopio posee un doble control para evitar la caída del sistema de vacío en caso de fallo del ordenador
Cámara portamuestras:
Goniómetro eucéntrico de entrada lateral con movimiento piezoeléctrico
Movimiento de la muestra en 5 ejes X, Y, Z inclinación y rotación.
Cambio de muestras mediante pre-cámara con sistema automático de evacuación.
Trampa anticontaminación refrigerada por LN2
Indicador digital e posición X,Y de la muestra en la pantalla del sistema
Posiciones de la muestra memorizables.
Portamuestras:
- Estándar: ± 25º con portamuestras de cambio rápido
- Portamuestras de doble inclinación analítico (Be)
Sistema de microanálisis:
Tipo SDD (Silicon Drift Detector) refrigerado termoeléctricamente, no necesita nitrógeno líquido para su refrigeración.
- 85 mm² de área activa
- Resolución de 127eV medidos en la línea K del Mn a 20.000 cps con ventana ultra delgada.
- Programas de análisis de datos con programas de análisis cualitativo y cuantitativo:
- Software de adquisición de espectros, análisis cualitativo y cuantitativo. Es un sistema guiado que permite una gran productividad del sistema
- Mapeado de elementos: Utilizado para investigar la distribución espacial de los componentes de la muestra. Permite el mapeado de los elementos.
- Análisis puntual: Permite realizar análisis puntuales o de áreas utilizando una imagen capturada como guía
Cámara CCD de alta resolución:
- Posición de la cámara: Bottom
- Tamaño del CCD 2048x2048 píxeles
- Frame rate: hasta 30 fps, binning 4x (512x512)
- Voltaje de trabajo entre 60 y 120 kV
- Software de control y procesado de imágenes
- Centellador: fosforo de alta resolución
- Acoplamiento por fibra óptica 1:1 que optimiza la recolección de la señal.
- Posibilidad de utilizar binning 1x, 2x o 4x
- Area activa 36mm x 24mm
- Lectura del CCD completo o sub área.
- Velocidad de lectura 30 MHz / 5 MHz
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