Microscopio de barrido JEOL JSM 7600F, cañón de emisión de campo y sistema de análisis elemental eds y detector de electrones “in lens”.

Características Técnicas

• Resolución

  • Electrones secundarios (SEI):
  • 1.0nm a 15 kV
  • 1,5nm a 1 kV en modo GB
  • 2,5nm a 1kV en modo SEM

  Voltaje de aceleración:

  • 0.1 a 30 kV
  • 0,5 a 30 kV en modo SEM
  • 10 V cada paso desde 0.5 a 2.9 kV
  • 100 V cada paso desde 2.9 a 30 kV
  • 0.1 a 4 en modo GB

  Cañón de electrones

  • Tipo: Schottky emisión de campo
  • Emisor:  ZrO/W
  • Alineamiento: Deflexión mecánica y electromagnética
  • Platina totalmente eucéntrica control por ordenador y movimientos motorizados (X, Y, R, T, Z) con corrección de  backlash

  Movimientos de muestras

  • Eje X: 70 mm
  • Eje Y: 50 mm
  • Eje Z: 1,5 a 25 mm (continuo)
  • Inclinación (T): –5º a +70º
  • Rotación (R): 360º

  Sistema de detección de electrones

  • Detector “in lens” SEI/BEI: Upper. Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador
  • Detector en cámara de muestras: Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador. SEI
  • Detector BE de bajo ángulo  

  Sistema de vacío

  • Cámaras cañón/intermedia: Bombas iónicas de ultra alto vacío
  • Cámara de muestras: Sistema automático de bomba turbomolecular
  • Válvula aislamiento de la cámara de cañón
  • Bombas de vacío:
    • Bombas iónicas (SIP)
    • Bomba turbomolecular
    • Bomba rotatoria
    • Tanque de reserva de vacío.

Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

Especificaciones técnicas:

• Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo
• Detector de electrones secundarios:
  Resolución de la imagen
• A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
• A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
• Amplificación (MAG): de 10 X (a los 39 mm de WD) a 500.000 X.
• Detector de electrones retrodispersados:
• A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
• Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm² con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.