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Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

Especificaciones técnicas:

  • Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo
  • Detector de electrones secundarios:
    Resolución de la imagen
    • A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
    • A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
    • Amplificación (MAG): de 10 X (a los 39 mm de WD) a 500.000 X.
  • Detector de electrones retrodispersados:
    • A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
  • Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm2 con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.

Contacto

Centro Nacional de Microscopía Electrónica
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