Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.
Especificaciones técnicas:
- Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo
- Detector de electrones secundarios:
Resolución de la imagen - A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
- A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
- Amplificación (MAG): de 10 X (a los 39 mm de WD) a 500.000 X.
- Detector de electrones retrodispersados:
- A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
- Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm2 con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.
View the embedded image gallery online at:
https://cnme.es/index.php/microscopios/microscopios-sem/jeol-jsm-6335f#sigProId7da646e691
https://cnme.es/index.php/microscopios/microscopios-sem/jeol-jsm-6335f#sigProId7da646e691