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Microscopio de barrido JEOL JSM 7600F, cañón de emisión de campo y sistema de análisis elemental eds y detector de electrones “in lens”.

Características Técnicas

  • Resolución

    • Electrones secundarios (SEI):
    • 1.0nm a 15 kV
    • 1,5nm a 1 kV en modo GB
    • 2,5nm a 1kV en modo SEM

    Voltaje de aceleración:

    • 0.1 a 30 kV
    • 0,5 a 30 kV en modo SEM
    • 10 V cada paso desde 0.5 a 2.9 kV
    • 100 V cada paso desde 2.9 a 30 kV
    • 0.1 a 4 en modo GB

    Cañón de electrones

    • Tipo: Schottky emisión de campo
    • Emisor:  ZrO/W
    • Alineamiento: Deflexión mecánica y electromagnética
    • Platina totalmente eucéntrica control por ordenador y movimientos motorizados (X, Y, R, T, Z) con corrección de  backlash

    Movimientos de muestras

    • Eje X: 70 mm
    • Eje Y: 50 mm
    • Eje Z: 1,5 a 25 mm (continuo)
    • Inclinación (T): –5º a +70º
    • Rotación (R): 360º

    Sistema de detección de electrones

    • Detector “in lens” SEI/BEI: Upper. Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador
    • Detector en cámara de muestras: Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador. SEI
    • Detector BE de bajo ángulo  

    Sistema de vacío

    • Cámaras cañón/intermedia: Bombas iónicas de ultra alto vacío
    • Cámara de muestras: Sistema automático de bomba turbomolecular
    • Válvula aislamiento de la cámara de cañón
    • Bombas de vacío:
      • Bombas iónicas (SIP)
      • Bomba turbomolecular
      • Bomba rotatoria
      • Tanque de reserva de vacío.

Contacto

Centro Nacional de Microscopía Electrónica
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