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Desde los años 70, la microscopía analítica ha evolucionado como materia de investigación fundamental y como herramienta para la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos. Se han dado pasos de gigante en la comprensión de la formación de imagen, difracción de electrones y de interacciones entre el haz y la muestra, tanto en términos de "la física de los procesos" como en su implementación práctica.

En este texto, los editores tratan de unir, en un volumen conciso y accesible, los recientes avances en esta materia. El libro empieza con los fundamentos para sentar las bases del estado actual de la microscopía electrónica, cubriendo todas las áreas importantes: óptica electrónica, interacciones haz/muestra, formación de imagen, microanálisis de rayos X, espectroscopía de pérdida de energía de electrones, difracción de electrones y efectos en el la muestra. El enfoque de este libro es, en general, más descriptivo que matemático para llegar a una gran cantidad de público científico de diferentes ramas. Sin embargo, en algunas areas se tratan conceptos matemáticos con profundidad para aumentar su atractivo a aquellos que busquen un tratamiento más riguroso de la materia.

Año: 1986

Editores:

  • Goldstein, Joseph
  • Joy, David C.
  • Romig Jr., Alton D

Editorial: Springer

DOI: 10.1007/978-1-4899-2037-9

ISBN Edición impresa: 978-0-306-42387-1

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