La microscopía electrónica de alta resolución (HREM) se ha convertido en una de las técnicas más usadas y útiles para la investigación de la estructura de materiales a escala atómica. En este libro se explican los fundamentos teóricos y prácticos de la técnica de HREM en Ciencia de los Materiales. Asimismo, se explican técnicas de simulación de imágenes, siendo indispensable para la correcta interpretación de imágenes HREM. Por otro lado, se describen las condiciones más recomendables para obtener imágenes que permitan la observación de la estructura de los materiales y métodos para extraer dicha información con ejemplos prácticos. Aparte de todo esto, se incluye información detallada sobre la observación de dislocaciones, interfases, superficies en materiales complejos como cerámicas compuestas, superconductores o cuasicristales. Además, se tratan las últimas novedades e instrumentación para llevar a cabo dichas medidas.  

Autores: Daisuke Shindo, Hiraga Kenji

Año: 1998

Editorial: Springer

ISBN-10: 4431702342

ISBN-13: 978-4431702344