La microscopía de fuerzas atómicas (AFM) es una técnica que permite el uso de diferentes metodologías para formar la imagen con una resolución sin precedentes. Permite medir muestras en líquido, vacío o aire y va un paso más allá de la microscopía convencional al permitir medir las propiedades magnéticas, eléctricas o mecánicas de un amplísimo rango de muestras con resolución nanométrica.
Este libro desmitifica el AFM para el lector haciéndolo fácil de entender. Sus autores tienen más de 30 años de experiencia en el diseño, construcción y uso de los AFM y explica por qué estos microscopios están construidos como están, cómo deberían utilizarse y qué datos se pueden obtener. Las capacidades de esta técnica se ilustran con ejemplos en ciencia de materiales, de la vida, nanotecnlogía e industria.
Editores:
- Paul West
Año de publicación: 2018
Editorial: OUP Oxford; Reprint edición (14 junio 2018)
ISBN-10 : 0198826281
ISBN-13 : 978-0198826286
