Este libro proporciona a los alumnos y técnicos una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y al microanálisis mediante rayos X. Los autores enfatizan en los aspectos prácticos de las técnicas descritas. Entre los temas tratados se incluye los espectrómetros de rayos X y la obtención de las composición mediante esta técnica. Otros capítulos versan sobre la preparación de muestras tanto biológicas, poliméricas como inorgánicas para su estudio mediante SEM, y sobre las técnicas para la eliminación de los efectos de carga en muestras no conductoras.
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Año de publicación: 2007
Editorial: Springer
ISBN: 978-1-4615-0215-9
