Este libro destaca lo que se puede lograr en la actualidad en términos de caracterización de materiales con la nueva generación de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío aplicados a materiales reales con alta resolución espacial. Analiza microscopios electrónicos de barrido avanzados / microscopios electrónicos de barrido y transmisión (SEM / STEM), técnicas de simulación y post-procesamiento a alta resolución espacial en los campos de nanomateriales, metalurgia, geología, etc.
- Brodusch, Nicolas
- Demers, Hendrix
- Gauvin, Raynald
Año de publicación: 2018
Editorial: Springer
ISBN 978-981-10-4433-5
