En los últimos 30 años, la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS) se ha convertido en una técnica analítica estándar utilizada en microscopía electrónica de transmisión para extraer información química y estructural con resolución atómica. En las dos ediciones previas de este libro, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope se ha convertido en la guía de referencia estándar a la instrumentación, la física y procedimientos involucrados, así como el tipo de información que se puede obtener. La reciente disposición de correctores de aberración de lentes magnéticas así como los monocromadores ha incrementado la resolución espacial y en energía de esta técnica. La tercera edición, por tanto, incorpora nuevos desarrollos y avances en la teoría de escatering de electrones, procesado de imagen y espectros, así como las aplicaciones recientes en campos como la nanotecnología. Los apéndices de este libro contienen una lista de recorridos libre medios así como una descripción de más de 20 programas de MATLAB para calcular datos de EELS.

Autor: R. F. Egerton

Año: 2011

Editorial: Springer

ISBN-10: 144199582X

ISBN-13: 978-1441995827