×
Inicio
CNME
Acerca del CNME
Objetivos
Personal
Cómo llegar
Biblioteca
Protocolo de acceso CNME
Actividad Científica
Microscopios
Microscopios Electrónicos de Barrido
JEOL 6400 JSM
JEOL JSM 6335F
JEOL JSM 7600F
JEOL JSM IT700HR
Microscopios Electrónicos de Transmisión
JEOL JEM 1010
JEOL JEM 1400
JEOL JEM 2100
JEOL JEM 3000F
Microscopio de Fuerzas Atómicas
Microsonda Electrónica EPMA
Instalaciones singulares ICTS-ELECMI
Protocolo de Acceso a las instalaciones singulares
JEOL JEM ARM200cF con aberración corregida en la lente condensadora (Equipo singular- acceso a través de ICTS-ELECMI)
JEOL JEM GRAND ARM300cF con aberración corregida en la lente objetivo (Equipo singular- acceso a través de ICTS-ELECMI)
Comité Científico
Tarifas
Tarifa A: UCM y Campus de Excelencia
Tarifa B: Organismos Públicos de Investigación (OPI)
Tarifa C: Empresas privadas
Usuarios externos (NO UCM)
FAQ
¿Necesita más información? - (+34) 91 394 4190
Login
Registro
Buscar...
Ir
Inicio
CNME
Acerca del CNME
Objetivos
Personal
Cómo llegar
Biblioteca
Protocolo de acceso CNME
Actividad Científica
Microscopios
Microscopios Electrónicos de Barrido
JEOL 6400 JSM
JEOL JSM 6335F
JEOL JSM 7600F
JEOL JSM IT700HR
Microscopios Electrónicos de Transmisión
JEOL JEM 1010
JEOL JEM 1400
JEOL JEM 2100
JEOL JEM 3000F
Microscopio de Fuerzas Atómicas
Microsonda Electrónica EPMA
Instalaciones singulares ICTS-ELECMI
Protocolo de Acceso a las instalaciones singulares
JEOL JEM ARM200cF con aberración corregida en la lente condensadora (Equipo singular- acceso a través de ICTS-ELECMI)
JEOL JEM GRAND ARM300cF con aberración corregida en la lente objetivo (Equipo singular- acceso a través de ICTS-ELECMI)
Comité Científico
Tarifas
Tarifa A: UCM y Campus de Excelencia
Tarifa B: Organismos Públicos de Investigación (OPI)
Tarifa C: Empresas privadas
Usuarios externos (NO UCM)
FAQ
Microelectronic Devices (Edward S. Yang)
Microscope Image Processing (Qiang Wu, Fatima Merchant and Kenneth Castleman)
Molecular Quantum Mechanics (Peter W. Atkins, Ronald S. Friedman)
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
Practical Analytical Electron Microscopy in Material Science (David. B. Williams)
Practical Methods in Electron Microscopy: Autoradiography and Immunocytochemistry (Audrey M. Glauert)
Inicio
Anterior
1
2
3
...
5
6
7
8
9
Siguiente
Final
Página 5 de 9
ICTS financiada por:
↑
×
Inicio
de Sesión
Recordarme
Iniciar sesión
Olvido el nombre de usuario?
Registrarse