Este libro se centra en la teoría y uso práctico de microscopios electrónicos de transmisión con correctores que permiten compensar las distorsiones en imagen provocadas por la aberración esférica. Además, se explican los diferentes  efectos a corregir las aberraciones en técnicas tanto de imagen (HREM y STEM) como analíticas para su uso en ciencia de los materiales y en biología. Este libro es esencial para los microscopistas que desean realizar experimentos de microanálisis a escala nanométrica, especialmente aquellos que usen STEM y técnicas relacionadas tales como EDX e EELS.

Autor: F. Rik Brydson

Año: 2011

Editorial: Wiley

ISBN-10: 9780470518519

ISBN-13: 978-0470518519