Este texto pionero ha aterrizado como el líder del mercado en el mundo entero. Esta edición de Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Second Edition está profusamente ilustrada con figuras a color y diagramas a lo largo del texto y proporciona la guía y perspectiva de la microscopía electrónica de transmisión para la técnica de caracterización de materiales. Muchas de las secciones de la pasada edición han sido revisadas, actualizadas y algunas re-escritas. Además, incluye una colección extensiva de preguntas para estudiantes, proporcionando alrededor de 800 cuestiones de autoevaluación.
En definitiva, este libro es ideal para adentrarse en la microscopía electrónica de transmisión, tanto para estudiantes de grado como para investigadores que desean una referencia en el ámbito de la ciencia de materiales.
Autores: David B. Williams y C. Barry Carter
Año: edición 2009
Editorial: Springer, Boston, MA
ISBN Edición impresa: 978-0-387-76500-6
ISBN Edición online: 978-0-387-76501-3
La microscopía electrónica in-situ de alta resolución en una técnica moderna y potente en la investigación de materiales, física y química. Las técnicas in-situ son raramente tratadas en los textos de microscopía electrónica, por eso, se presenta el presente conocimiento sobre estas y los avances de la microscopía electrónica in-situ en este libro, para hacer una revisión y remarcar los avances más importantes en los diferentes campos de la ciencia de materiales.
Autor: F. Banhart
Año: 2008
Editorial: Wspc
ISBN-10: 9789712797339
ISBN-13: 9789814471466
La microscopía electrónica de transmisión y barrido se ha convertido en una técnica convencional para el análisis y la toma de imágenes con resolución atómica, y los editores de este libro están ampliamente acreditados en este campo llevándolo a su popularidad presente. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis proporciona una explicación comprensiva de la teoría y práctica en STEM para niveles introductorios y avanzados, cubriendo la historia en el área, la instrumentación, la formación de imagen y la teoría de escatering, así como los aspectos prácticos de la imagen y el análisis. Los autores presentan ejemplos del uso combinado de espectroscopía e imagen para resolver problemas de muy diversa índole en campos como la materia condensada, la ciencia de materiales, catálisis, nanociencia, etc.
Es por tanto, una referencia integral para aquellos que trabajen en campos de la ciencia aplicada y deseen utilizar esta técnica, así como estudiantes de grado que empiezan su aprendizaje en microscopía, y para especialistas en otros campos de esta técnica.
Editores: Steven Pennycook, Peter D. Nellist
Año: 2011
Editorial: Springer, NY
ISBN: 978-1-4419-7199-9
