La espectroscopía de pérdida de energía o de los electrones o Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) es una técnica de alta resolución utilizada para el análisis de las muestras delgadas de un material. La técnica se utiliza en muchos microscopios electrónicos de transmisión para caracterizar materiales. Este libro proporciona una introducción actualizada a los principios y aplicaciones de EELS. Los temas incluyen la teoría subyacente, la cuantificación elemental, la estructura fina y la imagen en EELS.
Autor: Rik Brydson
Año: 2001
Editorial: Garland Science
Edición impresa ISBN-13: 978-1859961346
En los últimos 30 años, la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS) se ha convertido en una técnica analítica estándar utilizada en microscopía electrónica de transmisión para extraer información química y estructural con resolución atómica. En las dos ediciones previas de este libro, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope se ha convertido en la guía de referencia estándar a la instrumentación, la física y procedimientos involucrados, así como el tipo de información que se puede obtener. La reciente disposición de correctores de aberración de lentes magnéticas así como los monocromadores ha incrementado la resolución espacial y en energía de esta técnica. La tercera edición, por tanto, incorpora nuevos desarrollos y avances en la teoría de escatering de electrones, procesado de imagen y espectros, así como las aplicaciones recientes en campos como la nanotecnología. Los apéndices de este libro contienen una lista de recorridos libre medios así como una descripción de más de 20 programas de MATLAB para calcular datos de EELS.
Autor: R. F. Egerton
Año: 2011
Editorial: Springer
ISBN-10: 144199582X
ISBN-13: 978-1441995827
Este texto pionero ha aterrizado como el líder del mercado en el mundo entero. Esta edición de Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Second Edition está profusamente ilustrada con figuras a color y diagramas a lo largo del texto y proporciona la guía y perspectiva de la microscopía electrónica de transmisión para la técnica de caracterización de materiales. Muchas de las secciones de la pasada edición han sido revisadas, actualizadas y algunas re-escritas. Además, incluye una colección extensiva de preguntas para estudiantes, proporcionando alrededor de 800 cuestiones de autoevaluación.
En definitiva, este libro es ideal para adentrarse en la microscopía electrónica de transmisión, tanto para estudiantes de grado como para investigadores que desean una referencia en el ámbito de la ciencia de materiales.
Autores: David B. Williams y C. Barry Carter
Año: edición 2009
Editorial: Springer, Boston, MA
ISBN Edición impresa: 978-0-387-76500-6
ISBN Edición online: 978-0-387-76501-3
La microscopía electrónica de transmisión y barrido se ha convertido en una técnica convencional para el análisis y la toma de imágenes con resolución atómica, y los editores de este libro están ampliamente acreditados en este campo llevándolo a su popularidad presente. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis proporciona una explicación comprensiva de la teoría y práctica en STEM para niveles introductorios y avanzados, cubriendo la historia en el área, la instrumentación, la formación de imagen y la teoría de escatering, así como los aspectos prácticos de la imagen y el análisis. Los autores presentan ejemplos del uso combinado de espectroscopía e imagen para resolver problemas de muy diversa índole en campos como la materia condensada, la ciencia de materiales, catálisis, nanociencia, etc.
Es por tanto, una referencia integral para aquellos que trabajen en campos de la ciencia aplicada y deseen utilizar esta técnica, así como estudiantes de grado que empiezan su aprendizaje en microscopía, y para especialistas en otros campos de esta técnica.
Editores: Steven Pennycook, Peter D. Nellist
Año: 2011
Editorial: Springer, NY
ISBN: 978-1-4419-7199-9
