DISPONIBLE

El CNME ha instalado, durante la anualidad 2015, un microscopio electrónico de transmisión, GRANDARM300cFEG, equipado con corrector de aberración en la lente objetivo. Este nuevo microscopio complementa al ya instalado (ARM200cF), ya que mientras que el primero está especialmente diseñado para obtener resolución atómica a nivel composicional el segundo lo está para obtener resolución atómica estructural de 0.5 Å. Esto permitirá resolver problemas cristalográficos complejos a nivel atómico como pequeñas distorsiones de red o presencia de defectos puntuales que modifican las propiedades de los materiales, así como la visualización de átomos pequeños como H y Li. La configuración de este microscopio permite trabajar a voltajes aún más bajos: 60 KV. Esto es crucial para la investigación de nuevos materiales electrónicos: poliméricos e híbridos de base orgánica que actualmente están experimentando un enorme interés para el desarrollo de antenas ópticas, LEDS, células solares y transistores.

En la convocatoria de Infraestructura de 2014 se adjudicó al CNME, con número de referencia UCMA13-4E-1805 y aportación FEDER, para dotar al microscopio GRAND ARM300 de una cámara de alta resolución, unidad STEM y alineamiento a 80 kV.

Asimismo, se ha firmado un convenio entre la UCM y el MINECO, con referencia FICTS-2015-02-01 y cofinanciación FEDER para la adquisición de un espectrómetro EELS ENFINIUM y alineamientos 60, 120 y 200 kV para este microscopio GRAND ARM300.

Especificaciones Técnicas:

Cañón: Emisión de campo frio (tipo “Cold FEG”)

• Trampa anticontaminación que asegure un entorno limpio alrededor de la muestra
• Brillo del orden de: 109 A/sr cm2
• Estabilidad de Alta Tensión: 0,4 ppm (P-P)
• Estabilidad corriente Lente Objetivo: 0,5 ppm (P-P)
• Voltajes de aceleración. 60, 80, 120, 200, 300 kV
• Dispersión de energía de la fuente de electrones a 300 kV (CFEG):
  • δE ≤ 0,3
• Corrector de aberración esférica de la lente objetivo. Sistema de control y alineamiento del corrector integrado en el sistema de control del microscopio.
• Modo de operación TEM
  • Punto a punto ≤ 0,05 nm
• Diseño de la columna capaz de minimizar los efectos producidos por fluctuaciones de temperatura y campos magnéticos.
• Cubierta de protección del goniómetro
• Sistema óptico libre de rotación
• Posibilidad de control remoto
• Unidad de barrido en transmisión (STEM) y detectores DF/BF/LADF:

Dispositivo para la observación de imágenes STEM (Imagen transmisión mediante barrido de sonda)

• Resolución
  • Imagen entre planos
    • 0,136 nm @ 300 kV
    • 0,136 nm @ 200 kV
    • 0,200 nm @ 80 Kv
  • Aumentos
    • Low Mag 100x a 8.000x
    • Mag 10.000x a 8.000.000x
  • Sistema de barrido
    • Digital
  • Modos de barrido
    • Image Scan
    • Line Scan
    • Spot
  • Control externo

Espectrómetro EDS:

Detector SDD CENTURIO con 100 mm2 de área activa y ángulo sólido de 0,8 sr con pieza polar de lente objetivo de ultra alta resolución.

Espectrómetro EELS ENFINIUM:

El modelo Enfinium está soportado por la última versión de la Suite GATAN GMS 2 y el nuevo software interfaz AutoPEELS® de alta eficiencia.

El software GMS permite la operación del sistema, el alineamiento, sintonizado y la adquisición y análisis de datos EELS.

Todo el sistema funciona en entorno Windows7® 64-bit, copia offline de DigitalMicrograph y EELS Analysis

• Permite el registro de 100 espectros EELS por segundo con 1 kV de campo de visión en energía.
• Apertura EELS de 3 mm con posición fija
• Resolución en energía (eV FWHM) : 0.40 (con apertura 3.0 mm)
• Campo de visión en energía (eV): 1000
• Linealidad espectral (% Máx. escala): 2.0
• Número espectros (/s): 100
• Tamaño de apertura (mm):3.0
• Sistema de análisis STEMPack y DualEELS

Cámara de alta resolución:

• Voltaje de operación hasta 400kV
• Sensor CMOS 4096*4096 15 µm
• Área activa 61.4 mm * 61.4 mm
• Formatos imagen 1:1 (4k, 2k, 1k) 16:9 (UHD, HD)
• Formatos video 1:1 (4k, 2k, 1k) 16:9 (UHD, HD)
• Rango dinámico >16-bit con acumulación de imágenes
• Procesador Dual Intel Eight Core HT, 3.4GHz Turbo, 25 MB
• Sistema operativo Windows 8.1 Pro
• Memoria 32GB
• Tarjeta video 1 GB

¿Es necesaria la entrega de la solicitud de servicios para que me acepten la reserva de una sesión?

Es requisito imprescindible haber entregado la solicitud de servicios en la secretaría del centro antes de registrarse en la página web del centro, y por tanto su entrega es el primer paso para realizar la reserva de cualquier equipo. Para más información, consulte las Normas de Funcionamiento.

Puede descargar la solicitud de servicios en los siguientes enlaces según su afiliación:

- Usuarios UCM

- Usuarios No UCM (OPIs y Empresas) 

 ¿Qué tipo de microscopio necesito para realizar mis experimentos?

Los microscopios SEM permiten el análisis de materiales de tamaño micrométrico, permitiendo obtener su morfología, tamaño y composición elemental. Para poder observar materiales en SEM se necesita que éstos sean conductores; si no lo son es necesario depositar una fina capa de carbón u oro sobre ellos, para lo cual se pueden emplear los equipos de sputtering presentes en el centro.

Los microscopios TEM, por su parte, pueden analizar la estructura, tamaño de partícula, morfología y composición de materiales por debajo de 100 nm de grosor. Por encima de este espesor, las muestras deben ser preparadas para que sean transparentes a los electrones. En los microscopios TEM no se recomienda introducir muestras magnéticas. 

Para saber qué microscopio es el más adecuado para Ud., por favor, póngase en contacto con los técnicos especialistas de cada equipo.

¿Necesito preparar las muestras antes de realizar la sesión de microscopía?

Para realizar análisis en SEM, generalmente, sólo se necesita montar las muestras en el portamuestras mediante el empleo de pegamento o cinta de carbono. Si las muestras son aislantes será necesario evaporar una fina capa de un metal conductor para su visualización bajo el haz de electrones.  

Debido a la limitación en espesor en TEM, las muestras se deben preparar antes de ser introducidas en el microscopio para que sus dimensiones no superen los 100 nm de espesor. Para ello se pueden realizar cortes por ultramicrotomía, o mediante cortado y posterior pulido de las mismas. 

En la ICTS-CNME contamos con los equipos y personal necesarios para llevar a cabo estos procesos, por favor, póngase en contacto con los técnicos antes de su sesión. 

¿Cómo sé cuál es la tarifa adecuada para reservar los equipos?

Existen tres tarifas diferentes para las sesiones, las cuales dependen de la afiliación del investigador que reserva los equipos. Si usted es miembro de la UCM, use la tarifa A; si pertenece a una universidad o centro de investigación de financiación pública diferente a la
UCM, elija la tarifa B; y si usted es un empleado de una empresa privada, utilice la tarifa C.

Para más información, haga click en Tarifas.

He reservado una sesión y no he recibido correo de confirmación. ¿Qué hago?

Cuando se reserva una sesión en un microscopio, los técnicos responsables de esos equipos deben confirmarla. Una vez confirmada, recibirá un correo electrónico de confirmación o cancelación de la reserva. Si pasado un tiempo prudencial no ha recibido ninguna notificación, póngase en contacto con el técnico que tiene asignado para informarse de las causas. Se recomienda a los usuarios reservar los equipos, como mínimo, con 24h de antelación.

Necesito emplear rejillas de TEM especiales para mis muestras. ¿Posee el CNME estas rejillas o necesitaría comprarlas yo?

La ICTS-CNME sólo provee rejillas holey carbon de cobre, níquel y molibdeno. Si necesita otro tipo de rejillas, el usuario debe adquirirlas por su cuenta.

¿Cómo puedo descargar mis archivos de la página web?

Al finalizar la sesión, el técnico debe transferir los datos de la muestra a su carpeta personal en el servidor. Para descargar los archivos inicie sesión en la página web del centro, entre en la pestaña Administrar. Haga click en Mis archivos y podrá ver todos los archivos que tenga guardados. Pinche en el archivo que desee descargar y espere a que finalice la descarga. 

¿Cómo reservar una sesión?

NOTA IMPORTANTE: SI UD. NO ESTÁ DADO DE ALTA COMO USUSARIO EN EL CNME, ANTES DE RESERVAR DEBRÁ ENTREGAR LA SOLICITUD DE SERVICIOS DEBIDAMENTE CUMPLIMENTADA EN LA SECRETARÍA DEL CENTRO O ENVIARLA A LA DIRECCIÓN DE CORREO Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo. DESCARGUE LA SOLICITUD DE SERVICIOS QUE CORRESPONDA SEGÚN LA AFILIACIÓN DEL INVESTIGADOR PRINCIPAL:

Miembros UCM

OPIs y Empresas

Consulte el protocolo de acceso al CNME  aquí

Para reservar una sesión siga los siguientes pasos:

1. Inicie sesión con su usuario y contraseña desde la barra lateral derecha de la página principal y haga click en la pestaña “Reservas”. Rellene el formulario.

2. En el apartado "Recursos" del formulario podrá solicitar el microscopio que necesite. Si tiene cualquier duda póngase en contacto con nuestro equipo técnico a través del teléfono 91 394 4808/91 394 4192 o por correo electrónico a jEsta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo..

3. En el apartado "Servicios" seleccione la opción de sesión con técnico o sin técnico*.

*Las sesiones sin técnico sólo se aprobarán por los técnicos responsables después de realizar sesiones de capacitación. El número de sesiones dependerá del equipo a utilizar y del ritmo de aprendizaje de cada usuario. Si desea utilizar los microscopios sin técnico deberá ponerse en contacto con los responsables de cada equipo para más información.

4. En el calendario podrá reservar una sesión haciendo click en las franjas temporales disponibles en verde.

5. Por último haga click en "Enviar solicitud". Será redirigido a una página donde podrá ver el día, hora y microscopio que ha reservado.

Aviso importante: La reserva no se hará efectiva hasta que no reciba un correo de confirmación de los técnicos responsables.

Cuando utilice un ordenador conectado a un microscopio en el Centro Nacional de Microscopía Electrónica, verá en el escritorio un acceso llamado Carpetas usuarios. Este programa le dará acceso a una carpeta en nuestro servidor donde podrá almacenar las imágenes que obtenga de dicho miscroscopio para luego descargarlas desde nuestra web.

Los archivos permanecerán en el servidor durante 3 meses, después serán eliminados.

Para usarlo, siga estas instrucciones:

1. Haga doble clic en el icono Carpetas Usuarios en el escritorio. Aparecerá la pantalla mostrada debajo.
   
   
   
   
   
2. Se le pedirá el nombre de usuario que utiliza en la web. Escríbala y haga click en OK.
3. A continuación, introduzca su contraseña y haga click en ok.
4. Si sus datos son correctos, se mostrará la pantalla que puede ver a continuación. Puede arrastrar sus archivos al panel de la derecha, y con eso estarán disponibles para descargarlos.

 Cierre esta ventana cuando termine de transferir sus archivos.

Los objetivos que pretende alcanzar la ICTS Centro Nacional de Microscopía Avanzada son:

• Ayudar en la actividad investigadora de la Universidad Complutense de Madrid.
• Facilitar el desarrollo de programas de investigación. 
• Mejorar las prestaciones y la rentabilidad del equipamiento material y personal del centro.
• Proporcionar un soporte a la investigación tanto de los diferentes departamentos, equipos de investigación, escuelas y servicios de la Universidad Complutense de Madrid, como de otros centros de investigación y empresas privadas.
• Proporcionar servicios a los centros públicos y privados en el marco de convenios, conciertos o acuerdos que se establezcan.
• Desarrollar las investigaciones que impliquen mejorar o ampliar las prestaciones científicas y técnicas de acuerdo con las directrices generales de la política científica de la Universidad Complutense de Madrid.
• Elaborar, presentar y participar en proyectos de investigación dentro de la programación propia de la Universidad Complutense de Madrid, así como de otros organismos de financiación nacionales, de la U.E. y de otros países extranjeros, de acuerdo con las directrices de la Universidad Complutense de Madrid.
• Proporcionar asesoramiento a la comunidad científica en todo lo que haga referencia a las técnicas de microscopía electrónica.
• Elaborar y desarrollar programas docentes destinados a formar y reciclar especialistas en microscopia electrónica.
• Convertirse en un centro de referencia en microscopía electrónica, tanto en el ámbito de la Comunidad de Madrid, como en toda España.
• Formar personal técnico adecuado en el ámbito de la microscopía electrónica para que el servicio aumente en calidad. 

• POLÍTICA DE CANCELACIONES

Las reservas pueden ser canceladas hasta 48 horas antes. A las cancelaciones realizadas después de estas 48 horas se les cargará 1 hora de servicio. A las cancelaciones  con menos de 24 horas se les cargará la totalidad de la reserva.

• POLÍTICA DE USO DE LOS EQUIPOS

Los usuarios SIN técnico serán responsables del correcto uso del mismo y deberán estar avalados por personal técnico responsable del Centro.

Los usuarios se comprometen a la utilización de muestras que no dañen los equipos, así como a un uso responsable de los mismos y de las técnicas asociadas.

Todos los equipos del Centro están sujetos a distintas tarifas, que serán de aplicación en función del Organismo de procedencia. Los usuarios se consideran informados de dichas tarifas y se comprometen a reflejar, en los medios disponibles, dichos usos. La facturación se realizará en función de las horas de reserva. Solo en el caso de incidencia imputable al Centro se aplicarán las horas reales de uso.

Los usuarios se comprometen a mencionar la utilización de los equipos del Centro en las publicaciones a las que dieran lugar los trabajos desarrollados.

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