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Especificaciones técnicas

  • Cañón: Emisión de campo frio (tipo “Cold FEG”)
  • Voltaje de aceleración: de 80 kV a 200 kV. Alineación a 80, 100 y 200 KV
  • Resolución en energía a 200 kV: 0,3 eV
  • Estabilidad de la Alta Tensión: 0,5 ppm
  • Brillo a 200 kV: 1x109 A/cm2 sr
  • Lente Condensadora compuesta de tres lentes con corrector de aberración esférica. El control y alineamiento del corrector está integrado en el software de control del microscopio.
  • Apertura de la lente condensadora: Con 8 aperturas de tamaño variable
  • Lente Objetivo: Compuesta de dos lentes
  • Resolución:

                Modo TEM: 0,2 nm

                Modo STEM: 0,08 nm

Modos de imagen

TEM:

  • Campo claro BF
  • Campo oscuro DF

STEM:

  • Detector BF
  • Detector DF
  • Detector HAADF (anular alto ángulo campo oscuro)
  • Detector BF (anular campo claro)
  • Goniómetro: Eucéntrico con motorización piezoeléctrica.
  • Portamuestras de doble inclinación de bajo fondo
  • Portamuestras de alto ángulo de inclinación para tomografía

Filtro de imagen por energía

  • De última generación con resolución en energía de 0,1 eV con apertura 2,5 mm. Detectores BF/DF. Software de control y adquisición de imágenes y espectros.

Cámara CCD para registro de imagen

  • Cámara de 2K x 2K de alta sensibilidad y compatible con el filtro de energía

Sistema de microanálisis por dispersión de energía

  • Detector sin nitrógeno líquido. Área activa de al menos 50 mm2 y resolución de 129 eV.
  • Software de última generación para la adquisición y manejo de espectros. Mapeado digital de rayos-X. Software de compensación de la deriva del haz electrónico.

Contacto

Centro Nacional de Microscopía Electrónica
Facultad de Químicas
Av. Complutense s/n
28040 Madrid
Horario de atención: 8:00 a 22:00 de lunes a viernes
Dirección: 91 394 4188
Gestión y Dirección científica: 91 394 4808
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