Los desarrollos recientes en microscopía electrónica de barrido (SEM) han dado como resultado una gran cantidad de nuevas aplicaciones para la biología celular y molecular, así como en disciplinas relacionadas. Ahora es posible analizar complejos macromoleculares dentro de su microambiente celular tridimensional en estados casi nativos a alta resolución e identificar moléculas específicas y sus interacciones estructurales y moleculares. Los nuevos enfoques incluyen aplicaciones de crio-SEM y SEM ambiental (ESEM), técnicas de tinción y aplicaciones de procesamiento que combinan incrustación y extracción de resina para imágenes con SEM de alta resolución, así como avances en inmunomarcaje. Los nuevos desarrollos incluyen microscopía de iones de helio, fresado de haz de iones enfocado (FIB) combinado con SEM. Con capítulos escritos por expertos, esta guía ofrece una descripción general del SEM y el procesamiento de muestras para SEM y destaca varios avances en biología celular y molecular que se beneficiaron enormemente del uso de SEM convencional, criogénico, inmunológico y de alta resolución.
Editores:
Año de publicación: 2012
Editorial: Cambridge University Press
Online ISBN: 9781139018173
Hacia finales de la década de 1960, una serie de circunstancias muy diferentes se combinaron para iniciar un período de intensa actividad en el procesamiento digital de micrografías de electrones. En primer lugar, muchos años de trabajo para corregir las aberraciones que limitan la resolución de los objetivos del microscopio electrónico habían demostrado que estos impedimentos ópticos a una resolución muy alta podían, de hecho, superarse, pero sólo a costa de una inmensa dificultad experimental; gracias en gran parte al trabajo teórico de K. -J. Hanszen y sus colegas y con el trabajo experimental de F. Thon, las nociones de funciones de transferencia estaban comenzando a suplantar o complementar los conceptos de óptica geométrica en el pensamiento óptico electrónico; y finalmente, las computadoras grandes y rápidas, capaces de manipular grandes matrices de imágenes en un tiempo razonable, eran ampliamente accesibles. Así, la idea de que las imágenes de microscopio electrónico registradas podrían mejorarse de alguna manera mediante el procesamiento posterior por ordenador ganó terreno gradualmente. Al principio, la mayor parte del esfuerzo se concentró en la reconstrucción tridimensional, en particular de especímenes con simetría, y en operaciones lineales en especímenes de dispersión débil. En 1973, sin embargo, R. W. Gerchberg y W. O. Saxton describieron un algoritmo iterativo que, en principio, arrojaba la fase y amplitud de la onda de electrones que emerge de un espécimen fuertemente disperso.
Editor:
Año de publicación: 1980
Editorial: Springer
ISBN-10: 3540096221
ISBN-13: 978-3540096221
STEM es una disciplina de importancia para un número creciente de microscopistas. Este libro es una lectura esencial para estudiantes de pregrado, posgrado e investigadores que requieren una introducción actualizada y completa a esta técnica de vanguardia en rápido crecimiento.
Editores:
- R. J. Keyse
- A. J. Garratt-Reed
- P. J. Goodhew
- G. W. Lorimer
Año de publicación: 1997
Editorial: CRC Press
ISBN: 9781859960660
El nacimiento de la microscopía electrónica analítica (AEM) es algo oscuro. ¿Fue el reconocimiento del poder y el desarrollo de STEM lo que marcó su nacimiento? ¿AEM nació con la conexión de un espectrómetro de cristal a un TEM convencional? ¿O nació antes con el primer análisis de los espectros de pérdida de electrones? No es probable que ninguno de estos desarrollos por sí solo hubiera sido suficiente y ha habido muchos otros (microdifracción, EDS, fabricación de microhaces, etc.) que igualmente podrían afirmar ser críticos para el establecimiento de una verdadera AEM. Probablemente sea más exacto atribuir simplemente el rápido desarrollo actual a lo obvio: una combinación de ideas cuyo momento ha llegado. Quizás sea difícil rastrear el nacimiento de AEM simplemente porque sigue siendo un punto de discordia para incluso definir su verdadero alcance. Por ejemplo, los temas de este libro, aunque muy amplios, todavía están lejos de ser una descripción completa de lo que muchos llaman AEM. Cuando los haces de electrones interactúan con un sólido, es bien sabido que sigue una asombrosa cantidad de posibles interacciones. La microscopía electrónica analítica intenta aprovechar todas las ventajas cualitativas y cuantitativas de tantas de estas interacciones como sea posible, al tiempo que conserva la capacidad de obtener imágenes de alta resolución. Aunque aquí nos limitamos a películas electrón transparentes, gran parte de lo que se describe se aplica también a muestras gruesas. No es sorprendente que las señales de todas las interacciones posibles no se puedan obtener todavía (y probablemente nunca lo harán) simultáneamente en condiciones óptimas.
Editores:
Año de publicación: 1979
Editorial: Springer
ISBN-10: 147575583X
ISBN-13: 978-1475755831
Este libro proporciona a los alumnos y técnicos una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y al microanálisis mediante rayos X. Los autores enfatizan en los aspectos prácticos de las técnicas descritas. Entre los temas tratados se incluye los espectrómetros de rayos X y la obtención de las composición mediante esta técnica. Otros capítulos versan sobre la preparación de muestras tanto biológicas, poliméricas como inorgánicas para su estudio mediante SEM, y sobre las técnicas para la eliminación de los efectos de carga en muestras no conductoras.
Editores:
Año de publicación: 2007
Editorial: Springer
ISBN: 978-1-4615-0215-9
La microscopía de fuerzas atómicas (AFM) es una técnica que permite el uso de diferentes metodologías para formar la imagen con una resolución sin precedentes. Permite medir muestras en líquido, vacío o aire y va un paso más allá de la microscopía convencional al permitir medir las propiedades magnéticas, eléctricas o mecánicas de un amplísimo rango de muestras con resolución nanométrica.
Este libro desmitifica el AFM para el lector haciéndolo fácil de entender. Sus autores tienen más de 30 años de experiencia en el diseño, construcción y uso de los AFM y explica por qué estos microscopios están construidos como están, cómo deberían utilizarse y qué datos se pueden obtener. Las capacidades de esta técnica se ilustran con ejemplos en ciencia de materiales, de la vida, nanotecnlogía e industria.
Editores:
- Paul West
Año de publicación: 2018
Editorial: OUP Oxford; Reprint edición (14 junio 2018)
ISBN-10 : 0198826281
ISBN-13 : 978-0198826286
Este libro presenta reseñas de destacados expertos sobre los métodos y aplicaciones de la microscopía electrónica moderna. Los recientes premios Nobel otorgados por microscopía óptica de súper resolución y microscopía crioelectrónica han demostrado las ricas oportunidades científicas para la investigación en novedosas formas de trabajar en microscopía. Los premios Nobel anteriores de microscopía electrónica (el instrumento en sí y sus aplicaciones a la biología), la microscopía de sonda de barrido y la holografía son un recordatorio del papel central que juega la microscopía en la ciencia moderna, desde el estudio de las nanoestructuras en la ciencia de los materiales, la física y la química hasta la biología estructural.
Editores:
Año de publicación: 2019
Editorial: Springer
ISBN: 978-3-030-00069-1
Las nuevas formas de adquisición de imagen han dado lugar a grandes avances durante la última década, especialmente a escala nanométrica. Durante las últimas dos décadas, se han sumado un gran número de distintos tipos de microscopios al tradicional microscopio óptico así como a los microscopios electrónicos de transmisión y barrido.
En el volumen presente, un grupo de expertos analiza las novedades instrumentales y las nuevas versiones de las antiguas técnicas asociadas, poniendo su atención en las áreas de aplicación. Estas nuevas herramientas son muy beneficiosas para diferentes áreas, como la física de semiconductores, medicina, biología molecular o, en general, el nanomundo. Science of Microscopy es una guía indispensable para un gran rango de científicos así como para ingenieros.
Editores:
DOI: https://doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4
Springer, New York, NY
ISBN Edición impresa: 978-0-387-25296-4
ISBN Edición online: 978-0-387-49762-4
