Este microscopio está especialmente indicado para la caracterización superficial de muestras tanto dentro del área de la ciencia de materiales como del área de la biología. El equipo ofrece la posibilidad de trabajar tanto en alto como en bajo vacío.

El equipo posee los siguientes accesorios:

• Energía Dispersiva de Rayos X (EDS): determinación semicuantitativa de la composición de las muestras. Detector DrySD^TM de 60 mm²con una resolución de 133 eV.
• Detector de electrones secundarios (SE) para el adecuado estudio de la morfología superficial de la muestra
• Detector de electrones retrodispersados (BSE) para el estudio de la distribución de áreas de diferente composición media superficial en la muestra, utilizando la correlación entre peso atómico medio y grado de grises observados en las imágenes. La topografía superficial también puede obtenerse utilizando este detector.
• Catodoluminiscencia (CL): el detector (CENTAURUS) permite hacer un estudio espectral de la luminiscencia correlacionado con el barrido de la superficie. Con esto se consigue completar la información morfológica contenida en las imágenes de barrido con la información acerca de la luminiscencia a resoluciones espaciales puntuales submicrométricas.
• Portamuestras de enfriamiento (coolstage): el equipo posee un portamuestra que ofrece la posibilidad de trabajar en un rango de temperaturas entre -25 °C y +160 °

Características técnicas:

• Cañón de electrones:
• Tipo: emisión de campo tipo Schottky
• Emisor: ZrO₂@W
• Voltaje de aceleración: de 0.5 a 30 kV:
• 5 a 3 kV: variable en intervalos de 100 V.
• 3 a 30 kV: variable en intervalos de 1 kV.
• Resolución:
• Electrones secundarios (SEI) en modo de alto vacío:
• 0 nm: con voltaje de aceleración de los electrones de 20 kV y distancia de trabajo (WD) de 5 mm.
• 0 nm: con voltaje de aceleración de los electrones de 1 kV y distancia de trabajo (WD) de 5 mm.
• Electrones secundarios (SEI) en modo de bajo vacío:
• 8 nm: con voltaje de aceleración de los electrones de 15 kV, distancia de trabajo (WD) de 5 mm y 10 Pa de presión en la cámara de muestras.

• Cámara de muestras de amplias dimensiones:
• Estudio de muestras voluminosas, con apertura y cierre de la cámara de manera fácil y rápida en cuanto a tiempo de espera de recuperación de vacío.
• Portamuestras de múltiples posiciones que permite montar varias muestras de forma simultánea (7 portamuestras en formato estándar de Ø 10 mm).

Este libro proporciona una descripción de la física involucrada en la formación de la sonda de electrones y de las interacciones entre los electrones y la muestra. Las diferentes técnicas de imagen y modos analíticos usando electrones secundarios y retrodispersados, corrientes inducidas por el haz de electrones, rayos X, electrones Auger y cátodoluminiscencia son tratadas en el texto de manera detallada. 

Editor:

• Ludwig Reimer

Año de publicación: 1985

Editorial: Springer

ISBN 978-3-540-63976-3

Este libro proporciona a los alumnos y técnicos una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y al microanálisis mediante rayos X. Los autores enfatizan en los aspectos prácticos de las técnicas descritas. Entre los temas tratados se incluye los espectrómetros de rayos X y la obtención de las composición mediante esta técnica. Otros capítulos versan sobre la preparación de muestras tanto biológicas, poliméricas como inorgánicas para su estudio mediante SEM, y sobre las técnicas para la eliminación de los efectos de carga en muestras no conductoras. 

Editores:

• Josepth Goldstein
• Dale Newbury
• David Joy
• Charles Lyman
• Patrick Echlin
• Eric Lifshin
• Linda Sawyer
• Joseph Michael

Año de publicación: 2007

Editorial: Springer

ISBN: 978-1-4615-0215-9

Microscopio de barrido JEOL JSM 7600F, cañón de emisión de campo y sistema de análisis elemental eds y detector de electrones “in lens”.

Características Técnicas

• Resolución

  • Electrones secundarios (SEI):
  • 1.0nm a 15 kV
  • 1,5nm a 1 kV en modo GB
  • 2,5nm a 1kV en modo SEM

  Voltaje de aceleración:

  • 0.1 a 30 kV
  • 0,5 a 30 kV en modo SEM
  • 10 V cada paso desde 0.5 a 2.9 kV
  • 100 V cada paso desde 2.9 a 30 kV
  • 0.1 a 4 en modo GB

  Cañón de electrones

  • Tipo: Schottky emisión de campo
  • Emisor:  ZrO/W
  • Alineamiento: Deflexión mecánica y electromagnética
  • Platina totalmente eucéntrica control por ordenador y movimientos motorizados (X, Y, R, T, Z) con corrección de  backlash

  Movimientos de muestras

  • Eje X: 70 mm
  • Eje Y: 50 mm
  • Eje Z: 1,5 a 25 mm (continuo)
  • Inclinación (T): –5º a +70º
  • Rotación (R): 360º

  Sistema de detección de electrones

  • Detector “in lens” SEI/BEI: Upper. Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador
  • Detector en cámara de muestras: Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador. SEI
  • Detector BE de bajo ángulo  

  Sistema de vacío

  • Cámaras cañón/intermedia: Bombas iónicas de ultra alto vacío
  • Cámara de muestras: Sistema automático de bomba turbomolecular
  • Válvula aislamiento de la cámara de cañón
  • Bombas de vacío:
    • Bombas iónicas (SIP)
    • Bomba turbomolecular
    • Bomba rotatoria
    • Tanque de reserva de vacío.

Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

Especificaciones técnicas:

• Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo
• Detector de electrones secundarios:
  Resolución de la imagen
• A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
• A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
• Amplificación (MAG): de 10 X (a los 39 mm de WD) a 500.000 X.
• Detector de electrones retrodispersados:
• A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
• Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm² con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.

Este microscopio está especialmente indicado para la observación de la superficie de materiales (geológicos, químico-físico…) y biológicos, con la posibilidad de realizar análisis semicuantitativos para obtener una aproximación de la composición de los materiales. Se pede obtener, mediante el empleo de electrones retrodispersados, la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

Especificaciones técnicas:

• Cañón de electrones de cátodo termoiónico con filamento de tungsteno.
• Detector de electrones secundarios:

Resolución de la imagen

• A 25 KV:
• 3.5 nm   (a 8 mm de distancia de trabajo).
• 10.0 nm (a 39 mm de distancia de trabajo).
• Detector de electrones retrodispersados:

Resolución de la imagen

• 10.0 nm (a  8 mm de distancia de trabajo).
• Análisis EDS: análisis elemental cualitativo con una resolución de 133 eV.
• Preparación de muestras para microscopía de barrido:
• Materiales: metalización con oro o evaporación con grafito
• Biológicas:
• punto crítico
• evaporación con grafito y/o metalización con oro.