En la microscopía electrónica de barrido moderna, la preparación de la superficie de la muestra es de vital importancia, al igual que en la microscopía electrónica de transmisión. Con los procedimientos para la preparación de la superficie de la muestra que se proporcionan en el presente libro, se puede desarrollar plenamente el enorme potencial de los microscopios electrónicos de barrido avanzados. Esto llevará al lector a un nivel completamente nuevo de microscopía electrónica de barrido e imágenes finamente detalladas nunca antes vistas.
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Shimizu, Kenichi
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Mitani, Tomoaki
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer
ISBN 978-3-642-03160-1
Este libro destaca lo que se puede lograr en la actualidad en términos de caracterización de materiales con la nueva generación de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío aplicados a materiales reales con alta resolución espacial. Analiza microscopios electrónicos de barrido avanzados / microscopios electrónicos de barrido y transmisión (SEM / STEM), técnicas de simulación y post-procesamiento a alta resolución espacial en los campos de nanomateriales, metalurgia, geología, etc.
- Brodusch, Nicolas
- Demers, Hendrix
- Gauvin, Raynald
Año de publicación: 2018
Editorial: Springer
ISBN 978-981-10-4433-5
Los desarrollos recientes en microscopía electrónica de barrido (SEM) han dado como resultado una gran cantidad de nuevas aplicaciones para la biología celular y molecular, así como en disciplinas relacionadas. Ahora es posible analizar complejos macromoleculares dentro de su microambiente celular tridimensional en estados casi nativos a alta resolución e identificar moléculas específicas y sus interacciones estructurales y moleculares. Los nuevos enfoques incluyen aplicaciones de crio-SEM y SEM ambiental (ESEM), técnicas de tinción y aplicaciones de procesamiento que combinan incrustación y extracción de resina para imágenes con SEM de alta resolución, así como avances en inmunomarcaje. Los nuevos desarrollos incluyen microscopía de iones de helio, fresado de haz de iones enfocado (FIB) combinado con SEM. Con capítulos escritos por expertos, esta guía ofrece una descripción general del SEM y el procesamiento de muestras para SEM y destaca varios avances en biología celular y molecular que se beneficiaron enormemente del uso de SEM convencional, criogénico, inmunológico y de alta resolución.
Editores:
Año de publicación: 2012
Editorial: Cambridge University Press
Online ISBN: 9781139018173
En los últimos 30 años, la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS) se ha convertido en una técnica analítica estándar utilizada en microscopía electrónica de transmisión para extraer información química y estructural con resolución atómica. En las dos ediciones previas de este libro, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope se ha convertido en la guía de referencia estándar a la instrumentación, la física y procedimientos involucrados, así como el tipo de información que se puede obtener. La reciente disposición de correctores de aberración de lentes magnéticas así como los monocromadores ha incrementado la resolución espacial y en energía de esta técnica. La tercera edición, por tanto, incorpora nuevos desarrollos y avances en la teoría de escatering de electrones, procesado de imagen y espectros, así como las aplicaciones recientes en campos como la nanotecnología. Los apéndices de este libro contienen una lista de recorridos libre medios así como una descripción de más de 20 programas de MATLAB para calcular datos de EELS.
Autor: R. F. Egerton
Año: 2011
Editorial: Springer
ISBN-10: 144199582X
ISBN-13: 978-1441995827
La microscopía electrónica de transmisión y barrido se ha convertido en una técnica convencional para el análisis y la toma de imágenes con resolución atómica, y los editores de este libro están ampliamente acreditados en este campo llevándolo a su popularidad presente. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis proporciona una explicación comprensiva de la teoría y práctica en STEM para niveles introductorios y avanzados, cubriendo la historia en el área, la instrumentación, la formación de imagen y la teoría de escatering, así como los aspectos prácticos de la imagen y el análisis. Los autores presentan ejemplos del uso combinado de espectroscopía e imagen para resolver problemas de muy diversa índole en campos como la materia condensada, la ciencia de materiales, catálisis, nanociencia, etc.
Es por tanto, una referencia integral para aquellos que trabajen en campos de la ciencia aplicada y deseen utilizar esta técnica, así como estudiantes de grado que empiezan su aprendizaje en microscopía, y para especialistas en otros campos de esta técnica.
Editores: Steven Pennycook, Peter D. Nellist
Año: 2011
Editorial: Springer, NY
ISBN: 978-1-4419-7199-9
