Especificaciones Técnicas:

• Tensión de aceleración:               De 40 kV a 120 kV. En pasos de 33 V
• Modos de trabajo:                         TEM y STEM
• Resolución:        

 Modo TEM:

• 0,38 nm entre puntos.
• 0,2 nm entre líneas

 Modo STEM: 2,0 nm 

• Dispositivo de barrido en transmisión STEM Mode
• Sistema de adquisición de imagen STEM

Aumentos                                        

•  Modo TEM:  50x a 1.200.000x
•  Modo STEM: 120x a 2.000.000x

  Longitud de la cámara de 15 cm a 350 cm. en SA DIFF y  de 4 m a 80 m en HD DIFF.

Cañón de electrones: Cañón de tipo termoiónico con filamento de W o de LaB6. El filamento LaB6  permite una mayor luminosidad y coherencia del haz de electrones. Este tipo de filamento tiene una vida media muy superior al de wolframio reduciendo el riesgo de paradas por rotura del filamento.

Calentamiento automático del filamento

Válvula de separación de cañón y columna para mantener el vacío en cambios de filamento.

Alineamiento de ejes (inclinación y desplazamiento) electromagnético

Sistema neumático de elevación del cañón para cambios de filamento.

Lentes Condensadoras:

Tres lentes condensadoras  con zoom para el spot de iluminación.

Se puede controlar el brillo en modo zoom.

Tres aperturas de 20, 100 y 300 µm  de diámetro con posiciones prefijadas

Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable.

Alineación (inclinación y desplazamiento) electromagnética, memorizable.

Cambio de “bright/dark field” instantáneo con memorización para ambas condiciones, mediante un solo pulsador.

Lentes Objetivos:          

Cuatro aperturas variables de 20, 40, 60 y 120 µm  con posiciones prefijadas.

Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable.

Alineación (inclinación y desplazamiento)  electromagnética, memorizable.

Dos lentes objetivos

Ayuda al enfoque mediante Wobbler.

Posibilidad de programar pasos de desenfoque para aumentar contraste.

Búsqueda automática de foco con programación de intervalos.

Sistema de lentes intermedias:

Corrector de astigmatismo electromagnético memorizable

Libres de rotación de imagen y distorsión

Incorpora sistema de orientación electromagnética de imagen. Permite rotar la imagen en la pantalla del microscopio el ángulo deseado.

Consta de:

Tres lentes intermedias, tres diafragmas de 20, 100 y 300 µm de diámetro

Lente Proyectora: Una libre de distorsión.

Total tres lentes de iluminación y seis lentes de formación de imagen.

Sistema de vacío:

Control automático de la secuencia de vacío.

Presión en la cámara de muestras de 10^-5 Pa

Desgasificación de la columna programable.

Reloj de puesta en marcha automática del microscopio mediante bombas difusoras en cascada, con trampas refrigeradas por agua.

Sistemas de seguridad:

Cuenta con dispositivos de aviso y protección contra fallos de alimentación eléctrica, agua, vacío, alta tensión y exceso de corriente de emisión

El microscopio posee un doble control para evitar la caída del sistema de vacío en caso de fallo del ordenador

Cámara portamuestras:

Goniómetro eucéntrico de entrada lateral con movimiento piezoeléctrico

Movimiento de la muestra en 5 ejes X, Y, Z inclinación y rotación.

Cambio de muestras mediante pre-cámara con sistema automático de evacuación.

Trampa anticontaminación refrigerada por LN₂

Indicador digital e posición X,Y de la muestra en la pantalla del sistema

Posiciones de la muestra memorizables.

Portamuestras:

-     Estándar: ± 25º con portamuestras de cambio rápido

-     Portamuestras de doble inclinación analítico (Be)

Sistema de microanálisis:

• Tipo SDD (Silicon Drift Detector) refrigerado termoeléctricamente, no necesita nitrógeno líquido para su refrigeración.
•  85 mm² de área activa
• Resolución de 127eV  medidos en la línea K del Mn a 20.000 cps con ventana ultra delgada.
• Programas de análisis de datos con programas de análisis cualitativo y cuantitativo:
• Software de adquisición de espectros, análisis cualitativo y cuantitativo. Es un sistema guiado que permite una gran productividad del sistema
• Mapeado de elementos: Utilizado para investigar la distribución espacial de los componentes de la muestra. Permite el mapeado de los elementos.
• Análisis puntual: Permite realizar análisis puntuales o de áreas utilizando una imagen capturada como guía

Cámara CCD de alta resolución:

• Posición de la cámara: Bottom
• Tamaño del CCD 2048x2048 píxeles
• Frame rate: hasta 30 fps, binning 4x (512x512)
• Voltaje de trabajo entre 60 y 120 kV
• Software de control y procesado de imágenes
• Centellador: fosforo de alta resolución
• Acoplamiento por fibra óptica 1:1 que optimiza la recolección de la señal.
• Posibilidad de utilizar binning 1x, 2x o 4x
• Area activa 36mm x 24mm
• Lectura del CCD completo o sub área.
• Velocidad de lectura 30 MHz / 5 MHz

Circuito cerrado de refrigeración por agua de alta estabilidad

Microscopio de barrido JEOL JSM 7600F, cañón de emisión de campo y sistema de análisis elemental eds y detector de electrones “in lens”.

Características Técnicas

Resolución

• Electrones secundarios (SEI):
• 1.0nm a 15 kV
• 1,5nm a 1 kV en modo GB
• 2,5nm a 1kV en modo SEM

Voltaje de aceleración:

• 0.1 a 30 kV
• 0,5 a 30 kV en modo SEM
• 10 V cada paso desde 0.5 a 2.9 kV
• 100 V cada paso desde 2.9 a 30 kV
• 0.1 a 4 en modo GB

Cañón de electrones

• Tipo: Schottky emisión de campo
• Emisor:  ZrO/W
• Alineamiento: Deflexión mecánica y electromagnética
• Platina totalmente eucéntrica control por ordenador y movimientos motorizados (X, Y, R, T, Z) con corrección de  backlash

Movimientos de muestras

• Eje X: 70 mm
• Eje Y: 50 mm
• Eje Z: 1,5 a 25 mm (continuo)
• Inclinación (T): –5º a +70º
• Rotación (R): 360º

Sistema de detección de electrones

• Detector “in lens” SEI/BEI: Upper. Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador
• Detector en cámara de muestras: Colector, centellador, guía de luz y tubo fotomultiplicador. SEI
• Detector BE de bajo ángulo  

Sistema de vacío

• Cámaras cañón/intermedia: Bombas iónicas de ultra alto vacío
• Cámara de muestras: Sistema automático de bomba turbomolecular
• Válvula aislamiento de la cámara de cañón
• Bombas de vacío:
  • Bombas iónicas (SIP)
  • Bomba turbomolecular
  • Bomba rotatoria
  • Tanque de reserva de vacío.

Especificaciones técnicas

• Cañón: Emisión de campo frio (tipo “Cold FEG”)
• Voltaje de aceleración: de 80 kV a 200 kV. Alineación a 80, 100 y 200 KV
• Resolución en energía a 200 kV: 0,3 eV
• Estabilidad de la Alta Tensión: 0,5 ppm
• Brillo a 200 kV: 1x10⁹ A/cm² sr
• Lente Condensadora compuesta de tres lentes con corrector de aberración esférica. El control y alineamiento del corrector está integrado en el software de control del microscopio.
• Apertura de la lente condensadora: Con 8 aperturas de tamaño variable
• Lente Objetivo: Compuesta de dos lentes
• Resolución:

                Modo TEM: 0,2 nm

                Modo STEM: 0,08 nm

Modos de imagen

TEM:

• Campo claro BF
• Campo oscuro DF

STEM:

• Detector BF
• Detector DF
• Detector HAADF (anular alto ángulo campo oscuro)
• Detector BF (anular campo claro)
• Goniómetro: Eucéntrico con motorización piezoeléctrica.
• Portamuestras de doble inclinación de bajo fondo
• Portamuestras de alto ángulo de inclinación para tomografía

Filtro de imagen por energía

• De última generación con resolución en energía de 0,1 eV con apertura 2,5 mm. Detectores BF/DF. Software de control y adquisición de imágenes y espectros.

Cámara CCD para registro de imagen

• Cámara de 2K x 2K de alta sensibilidad y compatible con el filtro de energía

Sistema de microanálisis por dispersión de energía

• Detector sin nitrógeno líquido. Área activa de al menos 50 mm² y resolución de 129 eV.
• Software de última generación para la adquisición y manejo de espectros. Mapeado digital de rayos-X. Software de compensación de la deriva del haz electrónico.

Centro Nacional de Microscopía Electrónica 
Facultad de Químicas
Av. Complutense s/n
28040 Madrid

Plano del centro

Existen diferentes tarifas de pago en la ICTS-CNME dependiendo del origen del Investigador Principal (IP) que rellenó y firmó la Solicitud de Servicio. Para más información sobre cualquiera de las tarifas, presione sobre la que crea que se adecua en mayor medida a su situación:

Tarifa A: para personal perteneciente a la Universidad Complutense de Madrid

Tarifa B: para personal que provenga de universidades, organismos o centros públicos de investigación diferentes a la UCM.

Tarifa C: para personal cuyo puesto de trabajo se encuentre en una empresa privada.

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El Congreso Europeo de Microscopía 2020 (emc2020) se celebrará en Copenhague entre los días 23 y 28 de agosto de 2020. Organizado por la Royal Microscopical Society, este congreso de relevancia internacional es una de las mejores oportunidades para conocer las últimas novedades tanto científicas como técnicas en el campo de la microscopía. Para más información, seleccione el siguiente link.

El horario habitual de atención es de 8:00 a 22:00 de lunes a viernes. Estos horarios se adecuarán en función del convenio regulador del personal, con las reducciones y permisos marcados y aprobados por el Rectorado UCM. El acceso a las instalaciones fuera de este horario se realiza previa autorización del Centro. Como norma general, las instalaciones permanecen cerradas cuando no hay personal del CNME en las mismas. 

El acceso al CNME se realizará mediante registro de la huella dactilar, aquellos usuarios que no dispongan de dicho registro y vayan a ser habituales del Centro podrán proceder al registro de su huella en la secretaria del Centro. El resto de accesos se realizará mediante llamada al portero automático que conecta la secretaria y un terminal ubicado en el pasillo de acceso frente a Dirección científica.

El no cumplimiento de las normas obligará al CNME a no permitir el acceso al Centro. En todo momento se deberán seguir las instrucciones indicadas por el personal técnico del Centro en cuanto al manejo del material y uso de las instalaciones para mejor funcionamiento del servicio.

Antes de realizar el proceso de registro vía web, se deberá cumplimentar y entregar en la secretaria del Centro la Solicitud de Servicio con los datos del investigador principal (responsable del proyecto) el proyecto, organismo o empresa, para la facturación de servicios, así como los usuarios autorizados.

Pinche aquí para descargar la solicitud de servicios que le corresponda:

Miembros UCM

Miembros NO UCM

 Una vez cumplimentada y firmada electrónicamente por el investigador principal, enviar a la Gerencia del Centro:

ENVIAR CON FIRMA DIGITAL DEL IP A: Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

Las reservas de los equipos se realizan a través de la página web, una vez se haya registrado en la página mediante este enlace. Para ello, el usuario deberá entrar en el menú ‘Reservas’ y rellenar el formulario para escoger el servicio, el día y hora. El usuario será responsable de la custodia de las claves de acceso de registro que facilite el sistema en el momento de darse el alta. Una vez recibida la solicitud de servicio, el Técnico responsable evaluará la petición y, en función de la disponibilidad, aceptará la cita o, si la cancela, ofrecerá una alternativa. Todas las peticiones serán evaluadas por Técnicos expertos en un plazo no superior a 48 horas. El usuario deberá acudir a la sesión aceptada con su nombre de usuario y contraseña para ir guardando los datos obtenidos en la carpeta genera del servidor del Centro. Los datos permanecerán guardados, tal y como recogen las condiciones de servicio, durante un plazo de tres meses.

El técnico responsable del CNME realizará una formación concienzuda y extensa en el uso de los microscopios y técnicas asociadas, y deberá evaluar positivamente la capacitación del usuario para ser declarado como usuario experto. Esta capacitación como usuario experto puede ser retirada si el usuario no sigue las guías y recomendaciones especificadas por el técnico del CNME en uso de los equipos. No se permitirá la formación de unos usuarios a otros.

Los usuarios con técnico acudirán a la hora confirmada y contactarán con el Técnico responsable siguiendo en todo momento las indicaciones del mismo. El usuario que reserve un periodo de tiempo y no pueda hacer uso del mismo deberá anular la reserva a través de la web, según las condiciones aceptadas al registro. El sistema genera, automáticamente, correos electrónicos con la solicitud de reserva y la confirmación o cancelación, según proceda. En el caso de cancelación, el técnico responsable contactará con el usuario para ofrecer otra alternativa.

En el cuaderno de registro de uso de cada microscopio o técnica de preparación, el usuario deberá consignar la fecha de trabajo, su nombre, el nombre del responsable de su grupo, el nombre de la muestra, la hora inicial y final de medida, su firma y todas aquellas observaciones relativas al funcionamiento del equipo que observe durante su uso y que desee transmitir al técnico responsable. En el caso de usuarios con técnico, será éste el que cumplimente los datos de la sesión.

Las imágenes y datos obtenidos se guardarán en la carpeta de usuario del servidor del Centro. Se podrán descargar a través de la web en la pestaña ‘Administrar’ y ‘Mis archivos’. Con el fin de evitar problemas de seguridad informática y por el bien de todos los usuarios, no está permitido el uso de dispositivos de almacenamiento externos ajenos al Centro.

Los usuarios se comprometen a la utilización de muestras que no dañen los equipos, así como a un uso responsable de los mismos y de las técnicas asociadas. Todos los equipos del Centro están sujetos a distintas tarifas, que serán de aplicación en función del Organismo de procedencia. Los usuarios se consideran informados de dichas tarifas y se comprometen a reflejar, en los medios disponibles, dichos usos. La facturación se realizará en función de las horas de reserva. Solo en el caso de incidencia imputable al Centro se aplicarán las horas reales de uso.

La sala de preparación de muestras está dotada de técnicas asociadas para una correcta preparación de las muestras que van a ser observadas en los distintos equipos del CNME. Esta sala estará controlada y supervisada en todo momento por personal del Centro. Los equipos están disponibles para el uso de usuarios expertos acreditados y deben registrar, en los cuadernos disponibles, los datos solicitados. El incumplimiento reiterado de este registro conllevará la limitación o la inhabilitación para su uso. Los usuarios que precisen asistencia de un Técnico seguirán en todo momento sus indicaciones. Este Técnico será el encargado del registro en los cuadernos habilitados. Esta sala permanecerá cerrada a partir de las 19:00h. El acceso fuera de ese horario tendrá lugar previa solicitud al personal responsable.

Rogamos comunique al técnico responsable del equipo cualquier anomalía que pudiera haber detectado durante su estancia en el centro.

Los usuarios se comprometen a mencionar la utilización de los equipos del Centro en las publicaciones a las que dieran lugar los trabajos desarrollados.

Para más información, descargue la normativa del CNME en formato pdf en el siguiente enlace.

En las instalaciones del CNME se encuentran disponibles cuatro Microscopios Electrónicos de Transmisión convencionales. Entre ellos dos operan a bajos voltajes, destinados preferentemente al análisis de muestras biológicas, y otros dos operan a voltajes mayores, especialmente acondicionados para la caracterización de materiales inorgánicos.

Por otro lado, el CNME posee en sus instalaciones dos Microscopios Electrónicos de Transmisión con aberraciones corregidas (uno en la lente condensadora y otro en la lente objetivo) que forman parte de las instalaciones singulares de la ICTS-ELECMI, financiados con fondos FEDER, empleados para estudiar a nivel atómico muestras de interés. Ambos permiten operar tanto a bajos como altos voltajes. 

Seleccione los links ubicados a continuación para más información sobre cada uno de ellos:

• JEOL JEM 1010
• JEM 1400
• JEM 2100
• JEM 3000F
• JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora
• JEM GRAND ARM300cF: Con aberración corregida en la lente objetivo