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Este libro se centra en la teoría y uso práctico de microscopios electrónicos de transmisión con correctores que permiten compensar las distorsiones en imagen provocadas por la aberración esférica. Además, se explican los diferentes  efectos a corregir las aberraciones en técnicas tanto de imagen (HREM y STEM) como analíticas para su uso en ciencia de los materiales y en biología. Este libro es esencial para los microscopistas que desean realizar experimentos de microanálisis a escala nanométrica, especialmente aquellos que usen STEM y técnicas relacionadas tales como EDX e EELS.

Autor: F. Rik Brydson

Año: 2011

Editorial: Wiley

ISBN-10: 9780470518519

ISBN-13: 978-0470518519

Este libro se ha escrito específicamente para el estudiante que comienza el estudio de la cristalografía óptica. Se han omitido las descripciones de técnicas avanzadas, en favor de una completa pero sencilla presentación de las técnicas básicas para la determinación de las constantes ópticas de los cristales, usando sólo un microscopio polarizante y los medios de inmersión.

Los temas tratados son la luz y los fenómenos relacionados; la luz en los medios isótropos; lentes y el microscopio compuesto; el microscopio polarizante; examen óptico de sustancias isotropas; indicatrices y elipsoides ópticos.; la interferencia de la luz; estudio óptico de los cristales uniáxicos; cristales biáxicos; examen óptico de los cristales biáxicos; y solución de problemas ópticos por medio de proyecciones.

Autor: F. Donald Bloss

Año: 1994

Editorial: Ediciones Omega

ISBN-10: 8428202478

ISBN-13: 9788428202473

La microscopía electrónica de alta resolución (HREM) se ha convertido en una de las técnicas más usadas y útiles para la investigación de la estructura de materiales a escala atómica. En este libro se explican los fundamentos teóricos y prácticos de la técnica de HREM en Ciencia de los Materiales. Asimismo, se explican técnicas de simulación de imágenes, siendo indispensable para la correcta interpretación de imágenes HREM. Por otro lado, se describen las condiciones más recomendables para obtener imágenes que permitan la observación de la estructura de los materiales y métodos para extraer dicha información con ejemplos prácticos. Aparte de todo esto, se incluye información detallada sobre la observación de dislocaciones, interfases, superficies en materiales complejos como cerámicas compuestas, superconductores o cuasicristales. Además, se tratan las últimas novedades e instrumentación para llevar a cabo dichas medidas.  

Autores: Daisuke Shindo, Hiraga Kenji

Año: 1998

Editorial: Springer

ISBN-10: 4431702342

ISBN-13: 978-4431702344

Este libro contiene los fundamentos básicos sobre óptica electrónica y correcciones de aberración, la teoría de imagen lineal (incluyendo aberraciones de onda de hasta quinto orden) con coherencia parcial, y la teoría de dispersión múltiple. También se exponen métodos prácticos con detalles sobre el procedimiento paso a paso para obtener imágenes a escala atómica con alta resolución usando TEM o SEM. Se incluyen las diferentes aplicaciones de estas técnicas, y se han incluido secciones referentes a temas en boga en la actualidad como la holografía electrónica, filtros de imagen, métodos de súper-resolución, tomografía, cuantificación de imágenes y simulaciones, etc. La teoría de STEM y es descrita de manera exhaustiva, y otras técnicas como EELS, microscopía in situ o cátodoluminiscencia son explicadas, ofreciéndose además guías para el uso de programas informáticos de tratamiento e interpretación de imágenes.

Autor: John C. H. Spence

Año: 2013

Editorial: OUP Oxford

ISBN-10: 0199668639

ISBN-13: 978-0199668632

Desde los años 70, la microscopía analítica ha evolucionado como materia de investigación fundamental y como herramienta para la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos. Se han dado pasos de gigante en la comprensión de la formación de imagen, difracción de electrones y de interacciones entre el haz y la muestra, tanto en términos de "la física de los procesos" como en su implementación práctica.

En este texto, los editores tratan de unir, en un volumen conciso y accesible, los recientes avances en esta materia. El libro empieza con los fundamentos para sentar las bases del estado actual de la microscopía electrónica, cubriendo todas las áreas importantes: óptica electrónica, interacciones haz/muestra, formación de imagen, microanálisis de rayos X, espectroscopía de pérdida de energía de electrones, difracción de electrones y efectos en el la muestra. El enfoque de este libro es, en general, más descriptivo que matemático para llegar a una gran cantidad de público científico de diferentes ramas. Sin embargo, en algunas areas se tratan conceptos matemáticos con profundidad para aumentar su atractivo a aquellos que busquen un tratamiento más riguroso de la materia.

Año: 1986

Editores:

  • Goldstein, Joseph
  • Joy, David C.
  • Romig Jr., Alton D

Editorial: Springer

DOI: 10.1007/978-1-4899-2037-9

ISBN Edición impresa: 978-0-306-42387-1

Este libro expone de manera pormenorizada la preparación de autoradiografías y el empleo de los reagentes de tinción inmunológicos. La discusión desarrolla los usos de la inmunoquímica en los microscopios electrónicos para la identificación de anticuerpos. Otros temas incluidos son la tinción de anticuerpos con compuestos Fer-Ab en secciones ultrafinas y el control de la tinción por inmunoferritina, el método de tinción en múltiples pasos con proteínas sin modificar, el control de los experimentos de tinción mediante el empleo de lectinas, y los análisis de patrones en inmunoquímica aplicada a la microscopía electrónica. El libro también trata la descripción de la preparación de autoradiografías en microscopía electrónica, incluyendo el uso de radioisótopos en este modo de operación, la preparación de tejidos y células radioactivamente marcados, y métodos de aplicación de emulsiones radiactivas. Por ello, este libro puede servir como guía detallada para investigadores y técnicos que deseen realizar análisis por microscopía electrónica de compuestos biológicos.

Autor: Audrey M. Glauert

Año: 1977

Editorial: North Holland Publishing Co

ISBN-10: 0720406374

ISBN-13: 978-0720406375

Desde los años 50, los microanalizadores electrónicos ofrecen dos modos de obtención de espectros de rayos X: espectrometría de dispersión de longitud de onda (WDS), que emplea la difracción de cristales, y la espectrometría de dispersión en energía (EDS), en la cual la energía cuántica de los rayos-X se mide directamente. En general, la WDS ofrece una mejor separación de picos para líneas espectrales complejas, mientras que la EDS tiene una eficiencia de colección mayor y su uso es más fácil y económico. Ambas técnicas han dado lugar a grandes transformaciones hasta día de hoy y las funciones y ventajas relativas de ambas técnicas han sido objeto de conferencias durante 40 años. Este volumen recopila los artículos presentados en el Chuck Fiori Memorial Symposium en el Microbeam Analysis Society Meeting del año 1993. Esta rica colección de artículos pones de manifiesto diferentes temas de dimensiones históricas y de último minuto.

Editores:

  • David B. Williams
  • Joseph I. Goldstein
  • Dale E. Newbury

DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4615-1825-9

Springer, Boston, MA

ISBN Edición impresa: 978-1-4613-5738-4

ISBN Edición online: 978-1-4615-1825-9

Las nuevas formas de adquisición de imagen han dado lugar a grandes avances durante la última década, especialmente a escala nanométrica. Durante las últimas dos décadas, se han sumado un gran número de distintos tipos de microscopios al tradicional microscopio óptico así como a los microscopios electrónicos de transmisión y barrido. 

En el volumen presente, un grupo de expertos analiza las novedades instrumentales y las nuevas versiones de las antiguas técnicas asociadas, poniendo su atención en las áreas de aplicación. Estas nuevas herramientas son muy beneficiosas para diferentes áreas, como la física de semiconductores, medicina, biología molecular o, en general, el nanomundo. Science of Microscopy es una guía indispensable para un gran rango de científicos así como para ingenieros.

Editores:

  • Peter W. Hawkes
  • John C. H. Spence

DOI: https://doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4

Springer, New York, NY

ISBN Edición impresa: 978-0-387-25296-4

ISBN Edición online: 978-0-387-49762-4

Autor: J. G. Vaughan

Año: 1979

Editorial: Academic Press Inc.

ISBN-10: 0127153500

ISBN-13: 978-0127153506

Este libro pone de relevancia la importancia que juega la cristalografía actualmente. Es una panorámica que expone lo activo y amplio que es este campo, recogiendo los aspectos más relevantes de los análisis que se llevan a cabo en el presente en los centros de investigación: empleo de bases estructurales, técnicas de refinamiento, estudio de macromoléculas, de fibras, de amorfos, técnicas de difracción de electrones, de resonancia magnética nuclear, etc. 

Autores: Félix Hernández Cano, Concepción Foces-Foces, Martín Martínez Ripoll

Año: 1995

Editorial del Consejo Superior de Investigaciones Científicas

ISBN-10: 8400075579

ISBN-13: 978-8400075576

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