Este microscopio está especialmente indicado para la observación de la superficie de materiales (geológicos, químico-físico…) y biológicos, con la posibilidad de realizar análisis semicuantitativos para obtener una aproximación de la composición de los materiales. Se pede obtener, mediante el empleo de electrones retrodispersados, la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

Especificaciones técnicas:

• Cañón de electrones de cátodo termoiónico con filamento de tungsteno.
• Detector de electrones secundarios:

Resolución de la imagen

• A 25 KV:
• 3.5 nm   (a 8 mm de distancia de trabajo).
• 10.0 nm (a 39 mm de distancia de trabajo).
• Detector de electrones retrodispersados:

Resolución de la imagen

• 10.0 nm (a  8 mm de distancia de trabajo).
• Análisis EDS: análisis elemental cualitativo con una resolución de 133 eV.
• Preparación de muestras para microscopía de barrido:
• Materiales: metalización con oro o evaporación con grafito
• Biológicas:
• punto crítico
• evaporación con grafito y/o metalización con oro.

En los últimos 30 años, la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS) se ha convertido en una técnica analítica estándar utilizada en microscopía electrónica de transmisión para extraer información química y estructural con resolución atómica. En las dos ediciones previas de este libro, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope se ha convertido en la guía de referencia estándar a la instrumentación, la física y procedimientos involucrados, así como el tipo de información que se puede obtener. La reciente disposición de correctores de aberración de lentes magnéticas así como los monocromadores ha incrementado la resolución espacial y en energía de esta técnica. La tercera edición, por tanto, incorpora nuevos desarrollos y avances en la teoría de escatering de electrones, procesado de imagen y espectros, así como las aplicaciones recientes en campos como la nanotecnología. Los apéndices de este libro contienen una lista de recorridos libre medios así como una descripción de más de 20 programas de MATLAB para calcular datos de EELS.

Autor: R. F. Egerton

Año: 2011

Editorial: Springer

ISBN-10: 144199582X

ISBN-13: 978-1441995827

La microscopía electrónica in-situ de alta resolución en una técnica moderna y potente en la investigación de materiales, física y química. Las técnicas in-situ son raramente tratadas en los textos de microscopía electrónica, por eso, se presenta el presente conocimiento sobre estas y los avances de la microscopía electrónica in-situ en este libro, para hacer una revisión y remarcar los avances más importantes en los diferentes campos de la ciencia de materiales. 

Autor: F. Banhart

Año: 2008

Editorial: Wspc

ISBN-10: 9789712797339

ISBN-13: 9789814471466