Este libro proporciona información básica sobre el diagnóstico, centrándose en una metodología detallada con interpretación de los problemas diagnósticos más comunes. Los autores combinan información de las aplicaciones diagnósticas más importantes de la microscopía electrónica de transmisión con imágenes representativas de alta calidad con técnicas de preparación de muestras actuales para los diferentes tejidos. Este libro, por tanto, es una referencia para todo tipo de especímenes y es un recurso general para los laboratorios.
Editores:
- John W. Stirling
- Alan Curry
- Brian P. Eyden
Año de publicación: 2012
Editorial: Wiley-Blackwell
ISBN: 1119973996
Este volumen es un tratado exhaustivo de la preparación de muestras para la microscopía electrónica de transmisión. En él se describen 14 técnicas de preparación de muestras diferentes, incluyendo 22 protocolos para preparar láminas delgadas para análisis de TEM. Los posible pretratamientos y su compatibilidad están tratados en este libro. Se consideran, asimismo, las condiciones experimentales, opciones y variaciones, ventajas y limitaciones, consejos de otros austros tras años de experiencia, y aspectos teóricos. Se ha dado especial atención a los tipos de materiales, condiciones, análisis compatibles con los diferentes tipos de preparación, y los riesgos asociados.
Editores:
- Jeanne Ayache
- Luc Beaunier
- Jacqueline Boumendil
- Gabrielle Ehret
- Danièle Laub
Año de publicación: 2010
Editorial: Springer
ISBN 9781441959744
Este libro proporciona una descripción de la física involucrada en la formación de la sonda de electrones y de las interacciones entre los electrones y la muestra. Las diferentes técnicas de imagen y modos analíticos usando electrones secundarios y retrodispersados, corrientes inducidas por el haz de electrones, rayos X, electrones Auger y cátodoluminiscencia son tratadas en el texto de manera detallada.
Editor:
- Ludwig Reimer
Año de publicación: 1985
Editorial: Springer
ISBN 978-3-540-63976-3
Este libro proporciona una introducción concisa sobre los aspectos prácticos de la microscopía electrónica de transmisión con aberraciones corregidas con resolución atómica. Los avances más recientes en instrumentación óptica para imágenes de ultra alta resolución para la ciencia de los materiales y nanociencia. Cubre dos de las técnicas más populares con resolución atómica: HRTEM y STEM. Este libro combina tanto los aspectos prácticos como los fundamentos físicos de la corrección de aberraciones y la óptica de partículas cargadas.
El libro se divide en una tres partes claramente diferenciadas que puedes leerse de manera independiente. La prima parte trata sobre los fundamentos de las técnicas de imagen y los límites de la microscopía electrónica convencional. En la segunda se explican los principios básicos de la óptica electrónica, y las características de las lentes. La tercera parte se centra en las aberraciones, los correctores, y proporciona a los lectores una guía práctica para usar este tipo de microscopios a diario.
Editores:
- Rolf Erni
Año de publicación: 2010
Editorial: Imperial College Press
ISBN: 978-1-84816-536-6
Hacia finales de la década de 1960, una serie de circunstancias muy diferentes se combinaron para iniciar un período de intensa actividad en el procesamiento digital de micrografías de electrones. En primer lugar, muchos años de trabajo para corregir las aberraciones que limitan la resolución de los objetivos del microscopio electrónico habían demostrado que estos impedimentos ópticos a una resolución muy alta podían, de hecho, superarse, pero sólo a costa de una inmensa dificultad experimental; gracias en gran parte al trabajo teórico de K. -J. Hanszen y sus colegas y con el trabajo experimental de F. Thon, las nociones de funciones de transferencia estaban comenzando a suplantar o complementar los conceptos de óptica geométrica en el pensamiento óptico electrónico; y finalmente, las computadoras grandes y rápidas, capaces de manipular grandes matrices de imágenes en un tiempo razonable, eran ampliamente accesibles. Así, la idea de que las imágenes de microscopio electrónico registradas podrían mejorarse de alguna manera mediante el procesamiento posterior por ordenador ganó terreno gradualmente. Al principio, la mayor parte del esfuerzo se concentró en la reconstrucción tridimensional, en particular de especímenes con simetría, y en operaciones lineales en especímenes de dispersión débil. En 1973, sin embargo, R. W. Gerchberg y W. O. Saxton describieron un algoritmo iterativo que, en principio, arrojaba la fase y amplitud de la onda de electrones que emerge de un espécimen fuertemente disperso.
Editor:
Año de publicación: 1980
Editorial: Springer
ISBN-10: 3540096221
ISBN-13: 978-3540096221
STEM es una disciplina de importancia para un número creciente de microscopistas. Este libro es una lectura esencial para estudiantes de pregrado, posgrado e investigadores que requieren una introducción actualizada y completa a esta técnica de vanguardia en rápido crecimiento.
Editores:
- R. J. Keyse
- A. J. Garratt-Reed
- P. J. Goodhew
- G. W. Lorimer
Año de publicación: 1997
Editorial: CRC Press
ISBN: 9781859960660
Editor:
Año de publicación: 1988
Editorial: McGraw-Hill
ISBN-10: 0071003746
ISBN-13: 978-0071003742
El nacimiento de la microscopía electrónica analítica (AEM) es algo oscuro. ¿Fue el reconocimiento del poder y el desarrollo de STEM lo que marcó su nacimiento? ¿AEM nació con la conexión de un espectrómetro de cristal a un TEM convencional? ¿O nació antes con el primer análisis de los espectros de pérdida de electrones? No es probable que ninguno de estos desarrollos por sí solo hubiera sido suficiente y ha habido muchos otros (microdifracción, EDS, fabricación de microhaces, etc.) que igualmente podrían afirmar ser críticos para el establecimiento de una verdadera AEM. Probablemente sea más exacto atribuir simplemente el rápido desarrollo actual a lo obvio: una combinación de ideas cuyo momento ha llegado. Quizás sea difícil rastrear el nacimiento de AEM simplemente porque sigue siendo un punto de discordia para incluso definir su verdadero alcance. Por ejemplo, los temas de este libro, aunque muy amplios, todavía están lejos de ser una descripción completa de lo que muchos llaman AEM. Cuando los haces de electrones interactúan con un sólido, es bien sabido que sigue una asombrosa cantidad de posibles interacciones. La microscopía electrónica analítica intenta aprovechar todas las ventajas cualitativas y cuantitativas de tantas de estas interacciones como sea posible, al tiempo que conserva la capacidad de obtener imágenes de alta resolución. Aunque aquí nos limitamos a películas electrón transparentes, gran parte de lo que se describe se aplica también a muestras gruesas. No es sorprendente que las señales de todas las interacciones posibles no se puedan obtener todavía (y probablemente nunca lo harán) simultáneamente en condiciones óptimas.
Editores:
Año de publicación: 1979
Editorial: Springer
ISBN-10: 147575583X
ISBN-13: 978-1475755831
Este libro proporciona a los alumnos y técnicos una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y al microanálisis mediante rayos X. Los autores enfatizan en los aspectos prácticos de las técnicas descritas. Entre los temas tratados se incluye los espectrómetros de rayos X y la obtención de las composición mediante esta técnica. Otros capítulos versan sobre la preparación de muestras tanto biológicas, poliméricas como inorgánicas para su estudio mediante SEM, y sobre las técnicas para la eliminación de los efectos de carga en muestras no conductoras.
Editores:
Año de publicación: 2007
Editorial: Springer
ISBN: 978-1-4615-0215-9
Usando numerosos ejemplos de agregados, este libro contiene referencias de estructuras supramoleculares, describiendo la química involucrada desde diferentes ángulos. Una de las facetas de este documento es la inclusión de la visión espectroscópica de estructuras supramoleculares, la mayoría basadas en cristalografía de rayos X.
Autor: F. Vogtle
Año de publicación: 1993
Editorial: Wiley
ISBN-10: 0471940615
ISBN-13: 978-0471940616
